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[参考译文] ADS1261:ADS1261交流温度传感器读数

Guru**** 2386620 points
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/data-converters-group/data-converters/f/data-converters-forum/1239546/ads1261-ads1261-ac-temperature-sensor-readout

器件型号:ADS1261

尊敬的 Bryan:

我已经构建了惠斯通电桥温度传感器并使用交流读数。

从数据表中可以看出、我的噪声性能应该 低至0.016µV μ V_RMS (32Gain)

我自己进行了测量、得到的结果几乎相同。

我的温度传感器(处于真空和热隔离状态中)的测量在高频下表现出"肩部"状态。

我预计 在高频下会产生平坦噪声。

您对它的来源有什么想法吗?

以下是我的设置:

此致、

马塞尔·贝克

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    尊敬的 Marcel Beck:

    您能否解释一下您到目前为止已经做了哪些工作来寻找这种高频噪声的来源?

    另外、能否提供数据、以便我们知道"高频肩"是什么意思?

    -Bryan

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    您好、Bryan:

    我认为我的情节没有上传...

    第二次尝试:

    希望您这次能看到它。

    此致、

    马塞尔

    BTW:我们使用来自计算机的 USB 作为电压源(进行噪声限制测量时也使用此方法)

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    红色的图是另一个测量结果、我在这里

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    尊敬的 Marcel Beck:

    您发送的图显示了 f <1Hz (低频噪声)的频谱密度。 但是、您说您会看到高频噪声。 您能确认吗?

    你还提到了肩-你具体说什么?

    -Bryan

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    在本例中、"高频"大于1MHz

    "肩"是噪声从我的采样率(5sps)开始立即急剧上升。  

    我期望在"实际"温度噪声 产生影响之前会出现平坦噪声。

    -马塞尔

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    尊敬的 Marcel Beck:

    这似乎是1/f 噪声、它在您进行采样的时间越长、就越流行。 您似乎在很长时间内都在采样,

    您的传感器是否具有低频噪声?

    -Bryan

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    我更担心较高的频率(>1MHz )。

    为什么 从 SPS/2速率开始噪声突然增加? 它实际上是传感器噪声吗?

    我本可以 认为高频(>1Hz)的噪声是白噪声、而低频(就像正在做的那样)的传感器(温度)噪声会增加。

    对我来说、增加采样率时的测量结果也有点奇怪(请参阅下图)

    5sps

    100sps

    400sps

    400sps 和17.8ms 延迟(在它始终为50µs μ s 默认值之前)

    此致、

    马塞尔

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    尊敬的 Marcel Beck:

    我认为、查看您在时域中的数据而不是过频会更有用。 尤其是因为要测量温度、这实际上是一个直流信号。 就您尝试测量的内容以及如何查看数据而言、最后几个图表对我而言更有意义。

    有趣的是、显示5SPS 的图和显示400SPS (+额外延迟)的图正在测量相同的电压幅度、但前提是您从5SPS 图中排除该第一个奇数数据点。 那么、您看到了某种稳定问题了吗?

    该图还显示了似乎是漂移误差的情况。 这可能是 EVM 本身的长期漂移或温度漂移。 EVM 是否处于热控空间内?

    其他图(100SPS 和400SPS、无延迟)显示 波形中有哪种类型的周期性信号、可能是某种低频开关? 您是否对此数据执行了 FFT 以识别此信号的频率?

    -Bryan

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    100和400sps (默认延迟)的 FFT 会导致不同的频率峰值、因为周期性信号看起来与采样率而不是时间成比例。

    µV [Δ t/sqrt (Hz)] 中的 ASD (请参阅下面的蓝色和灰色曲线图)、7.8中的其中一个图(具有 PGA 和监控器的 ADS126x 高精度、5通道和10通道、40kSPS、24位、Δ-Σ ADC)是否已经引起了读取限制?

    此致、

    马塞尔

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    尊敬的 Marcel Beck:

    我的几个问题没有得到解答、我也不理解您最后一个问题。 第7.8节中是否有您参考的特定图表?

    此外、如果您获取数据几个小时、您将看到我在上一篇文章中提到的漂移错误。 这些将类似于频谱密度图中的1/f 噪声、因此您的结果是合理的。

    -Bryan

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    您好、Bryan:

    我想我发现了可能存在混叠的问题、因为我以5Hz 的频率进行采样、并且板上抗混叠滤波器的截止频率是75kHz。  

    在中、所有噪声(2.5Hz <噪声< 75kHz)都 对称地反射回较低的频率范围(香农/奈奎斯特)。

    测量电桥的阻抗非常高。 电阻器会产生大量噪声、并且电桥上的电流非常小。 在这种情况下、电桥成为天线、捕获再次在第一奈奎斯特区域中累积的真正松动的信号。

    我可以设置什么抗混叠滤波器 吗 ?或者我是否需要在评估板前面连接一个模拟器件?

    此致、

    马塞尔

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    尊敬的 Marcel Beck:

    您可以通过更换板上的组件来更改抗混叠滤波器的值。 但是、这些电容器应该是陶瓷电容器(C0G)、因为它们具有低电压系数和改进的性能。 这会限制您可以使用的电容值。 此外、增加电阻会增加系统的噪声、因此不能任意使电阻变大。

    或者、您可以尝试使用有源滤波器、但这可能会使测量增加噪声和误差。 它还需要在外部添加、无法选择直接向 EVM 添加这样的滤波器

    -Bryan

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    您好、Bryan:

    我将抗混叠滤波器设置为一个简单的 RC 电路(F_cutoff = 50Hz)。 我的采样率为5 (=5Hz)

    使用直流电进行测量时、我得到的是我期望的结果。 (本例中为0.2V)

    但是、当使用交流读数时、我获得的测量值接近0V。

    我50µs 的是、更改极性后立即进行测量(默认为 Δ V=Delay)、电容器还未充满电。

    我可以为延迟选择的最大值为17.8ms、在极性改变后仍将关闭/快速关闭。  

    下图应该可以解释我的顾虑:

    我想要的是在黄点进行测量(如下图所示):

    是否有任何方法可以在不编写我自己的代码的情况下实现这一目的?

    BTW:增加滤波器的截止频率将抵消其作用、因此不可行。

    此致、

    马塞尔

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    尊敬的 Marcel Beck:

    关于这条评论:

    我猜测更改极性后的测量立即完成(50µs =默认延迟),电容器尚未充满电。

    是的、这就是降低抗混叠滤波器带宽面临的挑战、而这会增加电路的模拟稳定时间。 如果您要使用交流激励功能、则必须更改 AA 滤波器截止频率。

    -Bryan

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    增加 AA 滤波器截止频率会导致无法滤除从我的采样率到电路板上75kHz AA 滤波器的噪声。

    这是一个问题,直到我写我自己的代码还是有解决办法?

    -马塞尔

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    尊敬的 Marcel Beck:

    我不确定如何使用代码解决此问题、但手动控制整个交流激励过程除外。 ADC 会自动添加延迟并执行开关、没有任何点可以在此过程中插入另一个延迟。 而您必须手动控制这些开关、然后添加延迟以等待滤波器稳定、再进行测量、再交换激励电压、再 添加延迟以等待滤波器稳定、再进行另一次测量、 然后在代码中执行数学运算以确定两次测量得到的最终 ADC 代码值。 您还需要手动控制基准交换、因为这是由 ADC 自动完成的。 这将需要使用另一组开关

    我不建议使用交流激励功能、因为它似乎导致的问题比它在此时所解决的要多。

    -Bryan