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器件型号：ADC3683 您好、TI 专家、
我需要设计一个 具有宽动态范围的光学检测器、以便 AIN_P 的输入电压可能非常大、例如3.4V。
我注意到、当 AIN_P 很大且被 ADC 的内部二极管钳位(钳位在2.3V 左右)时、通道 B 检测到大约3mV 串扰的信号(从 ADC 读取)。
1) 1)我尝试添加外部二极管 1SS315TPH3F、连接到 ADC 的1.8V 功率、现在它被 钳位在2V 左右、但仍然可以检测到串扰。
2) 2)我已尝试通过将二极管连接到电压偏差器将电压限制在大约1.5V。
现在、串扰似乎消失了。
我想 、即使 ADC 定期持续50~100us、也没有人能够保证 ADC 承受过压应力时的可靠性/串扰、因此需要钳位。
我的问题是二极管的正向电压不是恒定的、而是会增加额外的电容器 (尽管我的应用是低频应用(1MHz))、但我不确定它是否会 使信号失真。
是否正常？或者是否有任何其他更合理的解决方案？
谢谢！
