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[参考译文] ADS1282-SP:辐射后和老化

Guru**** 1826070 points
Other Parts Discussed in Thread: ADS1282-SP
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/data-converters-group/data-converters/f/data-converters-forum/1346755/ads1282-sp-post-radiation-and-aging

器件型号:ADS1282-SP

大家好、

我将对板的采集通道进行最坏情况分析。

我应该在3个条件下重复这些步骤:

BOL 生命开始

BOL+热漂移

EOL 生命周期结束

我在使用 ADS1282-SP (5962L1423101VXC)时、在数据表中找不到有关这些参数的后辐射漂移和老化的信息、这些信息对于 EOL 条件很重要、

-INL

-OFFFSET

增益误差

差分输入阻抗

-共模输入阻抗

在哪里可以找到这些信息?

谢谢

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    您好、Florinda:

    我认为我们获取了任何有关器件辐射后暴露的数据。  请给我2个工作日进行一些调查、看看我们是否有任何其他数据。

    此致、
    N·基思
    精密 ADC 应用

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    您好、Florinda:

    我们确实有50kRAD (Si)下的 TID 数据。  此数据可以在数据表的第7.5节"电气特性"部分中找到。  所有最大值限值均在25°C 下经过50kRads (Si)后测试。

    我们没有任何 SEE 测试的辐射后数据。

    此致、
    基思