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器件型号：AM26LV32E工具/软件：
您好团队 — 您能帮助解决客户提出的以下问题吗，谢谢！ 我们集思广益的几件事 — 制造变革？ 第二个站点资格？ 任何在这里的见解都是感激的！
我们在相邻引脚上测量这些器件时会出现阻抗差异。 对于较旧的批次代码、该测试本质上是开放式的。 在 2515 生产日期代码上、我们有预期阻抗的 10%。 请注意、这些是电路内测量的、而不是未经加工的器件。 另请注意、我们通过 SMT 连续处理多个批次、而无需更改其他组件或工艺参数。
目前板上的零件读数为 40k,但应该测量大约 450k。 我通过检查多个电路板并查看之前通过的测试数据来验证这一点。 受影响的组件似乎来自 2515 生产日期代码批次。
TI 是否有关于测量引脚间的阻抗的信息？ 即引脚 1 至引脚 2、引脚 2 至引脚 3 等
