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[参考译文] DP83867IR:在合规性测试模式 4 下失败

Guru**** 2694555 points
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/interface-group/interface/f/interface-forum/1583600/dp83867ir-fail-at-compliance-test-mode-4

器件型号: DP83867IR

您好的团队、

我的客户正在努力通过 1000BASE-T 的合规性测试的测试模式 4

当它们添加干扰信号并且 CLK_O_SEL 设置为发送时钟时、其电路板始终无法通过测试。 消除干扰信号、它可以成功通过测试。

有什么需要检查的吗?

他们又问了一个有关 0x00A0 和 0x00A1 的 TXG_GAINSEL_Fine 的问题。 数据表指出、当寄存器设置为 0x1111 时、增益可以增加到+14%。 不过、他们看到振幅变小、小于设置为 0x0000 时的幅度。 他们确认,在 0x1110 之前,王位符合预期。 对于 TXG_GAINSEL_Fine、使用 0x1111 是否有任何限制?

 

此致、

Shota Mago

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    尊敬的 Mago-San:

    客户是否未能通过合规性测试的失真测试?

    他们又问了一个关于 0x00A0 和 0x00A1 的 TXG_GAINSEL_Fine 的问题。 数据表指出、当寄存器设置为 0x1111 时、增益可以增加到+14%。 不过、他们看到振幅变小、小于设置为 0x0000 时的幅度。 他们确认,在 0x1110 之前,王位符合预期。 对于 TXG_GAINSEL_Fine、使用 0x1111 是否有任何限制?

    A0 和 A1 寄存器相对于 PHY 的修整、并且增益可能与数据表中指定的值不完全相关。 客户是否也发现电压模板测试存在问题?

    此致、
    j

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    尊敬的 J:

    客户是否在合规性测试中未通过失真测试

    是的。

    A0 和 A1 寄存器是相对于 PHY 的修整、增益可能与数据表中指定的值不完全相关。 客户是否也发现电压模板测试存在问题?

    客户确认、使用 Reg0x1D5 = F508 的设置、电路板可以通过模板测试。 它们只是想确保 A0 和 A1 寄存器的功能。  

    此致、

    Shota Mago

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    尊敬的 Mago-San:  

    在失真问题上、客户能否分享合规性报告、以便我们可以查看失败的程度?


    客户确认该主板可以通过 Reg0x1D5 = F508 设置的模板测试。 它们只是想确保 A0 和 A1 寄存器的功能。  [/报价]

    他们的直觉是正确的。 如果 A0 和 A1 从默认修整值增加、或反之、可提供额外的增益幅度。  

    此致、
    j

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    尊敬的 J:

    很抱歉晚才回复。

    我通过私人消息向您发送了合规性报告和测试设置信息。

    此致、

    Shota Mago

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    尊敬的 Mago-San:  

    感谢您发送消息。 除非涉及客户的详细设置、否则我将对此帖子做出回复。  

    此致、
    j

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    尊敬的 Mago-San:  

    感谢您发送编修。 我在内部讨论了这种情况、我们已经看到在 RBIAS 上使用 10nF 电容器可减轻 PHY 上的失真。 很抱歉、我无法提供不需要更改 BOM 的解决方案。  

    但是、我还想指出的是、失真测试的主要目标是检查 1000BASE-T 发送信号中使用的 17 个模拟电平的精度。 该测试不一定会检查信号完整性和信号形状。 在模板测试中检查这些选项、以确保 PHY 输出正确的电压和信号形状、以便接收器能够正确理解这些形状。  

    我们的某些 PHY 可能 超过 IEEE 802.3-2008 失真规范、但这不会直接影响系统级性能或互操作性。 其唯一影响是 IEEE 一致性测试结果。

    此致、
    j