This thread has been locked.

If you have a related question, please click the "Ask a related question" button in the top right corner. The newly created question will be automatically linked to this question.

[参考译文] AM26LV32E:有关 DLN/RFAB 输入电阻变化和未来生产晶圆厂组合的问题

Guru**** 2782575 points

Other Parts Discussed in Thread: AM26LV32E

请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/interface-group/interface/f/interface-forum/1614550/am26lv32e-questions-about-dln-rfab-input-resistance-variation-and-future-production-fab-mix

器件型号: AM26LV32E

1. DLN 和 RFAB 之间的输入电阻变化

我们在未安装的器件样本(使用手持式测试仪)上测量了 VCC A 和 B-GND 之间的电阻。

近似值为:

 

RFAB-A:VCC ~222k Ω、RFAB ~130k Ω

B-GND:DLn ~222k Ω、RFAB ~130k Ω

 

我们知道数据表中显示的 200k Ω 仅是内部偏置网络的简化/典型表示、而不是保证值。

尽管如此、差异仍然很大、足以影响我们应用中的 RC 行为。

问题 1:

从 TI 的角度来看、RFAB 器件的预期值是否根据工艺/晶圆厂变化而约为 130k Ω 至 140k Ω?

或者这些值是否会被视为超出正常范围?

我想知道电阻值的范围。

 

2. RFAB 和 DLN 设备的等效性

问题 2:

TI 是否认为 RFAB 生产的 AM26LV32E 器件完全等同于 DLN 器件(外形/功能,数据表兼容性)?

我们希望正式确认这一点、以便我们能够向客户正确解释。

 

3.未来生产 (DLN/RFAB/MIX)

问题 3:

对于未来的生产、我们是否应该预期器件来自:

 

仅限 DLN

仅限 RFAB

或同时使用 FABS?

 

即使是通用指南(例如“主要 RFAB 未来“)也有助于我们的内部规划。

 

4.未来的发货中是否会混合使用 DLN 和 RFAB?

如果两个 FB 都可能继续出现在供应链中、我们需要确保我们的输入串联电阻值适用于这两种型号。

问题 4:

未来的装运是否会混合使用 DLN 和 RFAB 器件?

或者、每个货件/批次是否仅包含来自单个晶圆厂的器件?

任何有关 TI 配送政策的评论都将不胜感激。

 

5、申请固定制造厂来源的可能性

出于设计裕度和资质审核目的、我们更容易使用一致的制造厂资源。

问题 5:

是否可以通过固定的制造厂源(例如仅 DLN 或仅 RFAB)订购 AM26LV32E?

如果有任何可用的方法(订购代码,特殊申请等)、请告知我们。

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    您好  Ryusuke、

    您能分享系统原理图吗? 我可能会发现任何可能导致性能差异的根本问题。  

    A/B 线路上具体有哪些上拉/下拉电阻器? A 线和 B 线之间是否存在端接电阻器?

    我回想起了鲍比在上一篇文章中所说的。 我们没有在 这些引脚之间表征该特定的电阻。

    问题 1: 是的、这些似乎与我们所看到的一致。 但同样、我们不会基于此参数专门验证我们的器件。

    问题 2: 是的。 您可以查看相关的数据表修订历史记录(特别是修订版 D)。

    问题 3 在 RFAB 的大多数器件过渡到这家制造厂时、您可以预计材料会更多。  

    问题 4: 我们目前正在耗尽 DLN 材料。 RFAB 现在是该器件的唯一生产来源。 目前、不可能仅申请 RFAB 材料。

    此致、

    Ethan

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    尊敬的 Ethan:

    感谢您的答复。

    据我所知、数据表中显示的电阻值应视为参考值/典型值、而不是保证的规格

    下面我想分享我们的等效电路。

    在我们的应用中、AM26LV32E 的有效输入电阻会影响输出时序、因此我们想知道如何从设计指南的角度考虑此电阻。

    我们并不要求 TI 为此电阻提供正式的最小/最大规格。 相反、出于设计目的、我们想知道 TI 如何建议对器件的输入电阻进行建模。 例如、我们是否应该:

    -假设它是非常高(接近无限),这样它可以被忽略在大多数设计,或

    -假设它可以变得足够低,它不是可以忽略不计相比外部电阻器和线路阻抗?

    有关如何在时序‑敏感电路中处理输入电阻的任何通用设计指导或建议都将非常有帮助。

    此外、从失效‑安全电路设计和交流裕度(时序)评估的角度来看、对于 TI 关于如何考虑此输入电阻的一般指导或意见、我们将不胜感激。

    该电路用于从编码器接收 A‑相位和 B‑相位反馈脉冲信号(具有 90‑相位差)。 所附的原理图仅显示一个相位。 在实际系统中、我们对 A‑相和 B‑相使用相同的电路、并且接收器输出连接到 FPGA。

    我们特意使用此电路配置、以便下游逻辑 (FPGA) 可以检测输入何时开路。

    在不更改任何周围电阻值的情况下使用新工艺 (RFAB) 器件时、接收器输出的‑μ s 下降沿延迟只会明显变大。 因此、例如、A‑PHASE 输出的下降沿更接近 B‑PHASE 输出的上升沿时序。 这有时会导致 FPGA 错过相位‑差分脉冲。

    在我们的应用中、输入端 A‑相位和 B‑相位之间的最小相位差约为 40ns、在线路接收器之后、我们希望这些信号之间保持至少 25ns 的间隔。

    此致、

    柳介

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    您好 Ryusuke

    我将赶上 E2E、明天会为您解答。

    Ethan

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    尊敬的 Ethan:

    我期待您的答复。

    此致、

    柳介

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    您好  Ryusuke、

    您可以假设它非常高(也称为无穷大)、因此可以忽略它。  

    我建议阅读这篇失效防护文章、为特定网络选择正确的端接电阻器和失效防护电阻器:

    https://www.ti.com/document-viewer/lit/html/SSZTAK0 

    此外、不建议使用 R2 电阻、因为它们会降低驱动器强度并影响接收器中断输入信号的方式。 但是、您似乎在独特的配置中使用此 RS 422、因此我会让您决定如何处理这些配置。  

    也许值得调整差分电容器 CIN 来看看这是否会影响时序差。 我知道 RFAB 器件的差分电容会略有不同。 但我手头上没有精确的测量数据、因为在这种情况下测量电容非常复杂。  

    此致、

    Ethan