[参考译文] DS125DF111：手动设置 DFE 抽头

您好！

您能否提供有关如何配置重定时器的详细信息？ 如果使用 GUI、您可以保存并共享配置、以便我可以查看。

谢谢、

Drew

附件中有几个不同的文件。 第一个是成功引导并使用默认设置链接。 另外2个是我尝试手动将 DFE 抽头1设置为+4。 标题为 DFE_POST_BOOT_080422的代码是我从手动设置 DFE 抽头1的 EEPROM 映像引导后看到的内容。 这些文件仅来自链路中的一个 CDR、正如我所解释的、我的系统中有2个 CDR (同轴电缆的每端各一个 CDR)。 在手动设置 DFE 分接头后从 EEPROM 引导时、我似乎无法在两个 CDR 之间成功锁定、我必须做的是连接 GUI、然后转到"High Level (高级)"选项卡、"Device Status (器件状态)"、 并允许它更新、然后系统将锁定。 从 EEPROM 映像引导并使用手动 DFE 设置后、系统可能会挂起或不自动更新 HEO/VEO 值、但一旦我使用 GUI 器件状态页面更新这些设置、就可以正常工作。 我还尝试通过 GUI 的较低级别页面手动使启动失败后的事情发生、但这种方法没有成功。 我假设我需要遵循一个流程来手动使用"状态页面"自动执行的方法启动操作。 我还尝试上传我在 EEPROM 中使用的.hex 文件、但这种格式不允许我上传。  

e2e.ti.com/.../Working_5F00_080422.cfge2e.ti.com/.../Manual-DFE_5F00_080422.cfge2e.ti.com/.../manual_5F00_DFE_5F00_post_5F00_boot_5F00_080422.cfg

Joe、您好！

感谢您附加配置文件。  我将研究这一点、让我们在明天的通话中跟进这一点。

谢谢、

Drew

Joe、您好！

我有几个跟进想法。

• 我们发现、当我们设置 ch_reg_0x24[1：0]时、允许 CDR 锁定。  是否可以检查并查看是否只设置其中一个位即可实现 CDR 锁定？
• 如果清除通道寄存器0x23[7]、这是否允许发生 CDR 锁定？  如果不是立即发生、是否在您重置/释放 CDR 时发生？
• 您能否尝试附加的十六进制文件、并告诉我与 CDR 锁定相关的行为是否有任何变化？

谢谢、

Drewe2e.ti.com/.../Mode2_5F00_Modified.hex

Drew、

   尝试此文件后、我仍在系统中看到问题。 我已尝试通过将模式设置为0并禁用 HEO/VEO 锁定监控来禁用所有自动调整、但即使这样、我仍然会看到此问题。 您是否有任何其他建议可帮助您确保 CDR 在操作过程中不会重新调整或重新同步。  

Joe、您好！

我有几个问题要澄清、以确保我正确理解。  您是否看到系统在高温下变热后、它会在一小段时间内失锁、然后重新锁定的问题？  如果我正确地记得、在使用"错误"十六进制文件手动设置 DFE 抽头时不会发生这种情况、在该文件中、您必须使用 GUI 来启动 CDR 锁定。  既然您有了可解决手动 DFE 抽头 CDR 锁定问题的十六进制文件、那么系统在温度下会出现 CDR 锁定干扰？

[引用 userid="254813" URL"~/support/interface-group/interface/f/interface-forume/1123545/ds125df111-手动设置-DFEE-tap / 4179085#4179085"]禁用 HEO/VEO 锁定监控、但即使如此、我仍会看到此问题

这是通过清除0x3E[7]实现的吗？

谢谢、

Drew

Drew、  

   我在系统过热时看到此问题、但前提是先在极端寒冷的温度下浸湿并冷启动。 是的、它似乎失去锁定。 不确定我如何确认这一点、但这正是我在测试站上获得短突发丢失数据包时所建议的行为。 我能够通过 GUI 手动设置 DFE 抽头来纠正此行为。 但是、我想知道 、当我通过 GUI 手动设置 TAP 时、实际发生的情况可能 会破坏 CDR 状态机。 与我们在状态机中看到的中断类似、它不会自动从我创建的十六进制文件开始。 我通过寄存器0x3E[7]禁用 HEO/VEO 锁定。

Joe、您好！

[引用 userid="254813" URL"~//support/interface-group/interface/f/interface-forum/1123545/ds125df111-manually setting-DFE-tap /4179563#4179563]I 能够通过 GUI 手动设置 DFE 抽头来纠正此行为。 但是、我想知道 、当我通过 GUI 手动设置 TAP 时、实际发生的情况可能 会破坏 CDR 状态机。[/QUERP]

您是否会在器件处于冷湿状态时执行此配置、然后在测试的其余部分保持 GUI 不变？  尝试了解这是与 CDR 状态机的 GUI 中断相关、还是与 GUI 设置的特定寄存器相关。

谢谢、
Drew

Drew、

   明天早上我可以再试一次。 我目前正在运行另一个测试。 我不知道我可以保持 GUI 不变、因为我需要在8个 CDR 芯片之间切换、以便通过 GUI 手动设置 DFE 抽头。 我将重复我之前所做的工作、并记录与您分享的步骤。  

Joe、您好！

感谢您对此进行深入研究。

我认为您可能已经验证过、发送到重定时器的数据 在您的温度测试过程中不会发生变化。  您是否能够分享您在这方面完成的一些调试步骤？  我将与一些同事就这个问题进行交流、我相信他们会问我、我们是否知道输入数据不会改变。

谢谢、

Drew

Joe、您好！

另一个后续问题：

您是否碰巧知道电路板或器件在扫过温度时的温度？  不知道在您的浸泡温度与电路板温度之间是否存在明显的温差。

谢谢、
Drew