This thread has been locked.

If you have a related question, please click the "Ask a related question" button in the top right corner. The newly created question will be automatically linked to this question.

[参考译文] TUSB217A-Q1:J/K 测试失败

Guru**** 2530950 points
Other Parts Discussed in Thread: TUSB217A-Q1

请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/interface-group/interface/f/interface-forum/1051694/tusb217a-q1-j-k-tests-fail

器件型号:TUSB217A-Q1

尊敬的 TI 应用团队:

 这是 https://e2e.ti.com/support/interface-group/interface/f/interface-forum/1042031/tusb217a-q1-unable-to-perform-cdp-handshake 的后续操作

我无法激活采用 RGY 封装的 TUSB217A-Q1的 CDP 控制器、通过将其保留引脚连接到 GND 来解决此问题。

但是、由于 D 电平高于10mV (大约20mV)、该设计现在无法通过 J 和 K 测试。 通过移除 GND (保留引脚、禁用 BC 1.2)分流器、D 电平恢复正常。

导致此问题的原因是什么?您建议如何运行 J 和 K 测试?

谢谢、

Giuseppe

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    您好、Giuseppe、

    我猜 CDP VDM 源是打开的,因为端口在技术上未连接到 test_J/K 状态。  20mV 仍在通过、请参阅 USB-IF 此处的更新:

    https://compliance.usb.org/index.asp?UpdateFile=Electrical&Format=Standard#92

    我将在本周稍后的实验中对此进行验证并进行更新。

    此致、

    JMMN

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    JMMN、您好!

    谢谢。 期待您的更新。

    Giuseppe

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    您好、Giuseppe、

    由于 CDP 功能、我能够复制 TEST_J 期间 D-值的增加。  在我们的实验中、它仍然会留有一定的裕度(低于20mV)、但我将检查设计、看看我们是否可以识别测试过程中会导致 CDP 无法启用的变化。

    此致、

    JMMN

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    谢谢你。

    目前、我遵循标准测试程序、但我希望在新程序可用时更新我的结果。

    Giuseppe

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    您好、Giuseppe、

    我将继续打开此 TT、直到从设计中获得反馈。

    此致、

    JMMN