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[参考译文] TMDS181:芯片信号输入引脚的缺陷超过5%、测量结果发现相应芯片引脚的电阻异常、损坏原因不清楚

Guru**** 2777545 points
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/interface-group/interface/f/interface-forum/968192/tmds181-the-chip-has-a-defect-of-more-than-5-at-the-signal-input-pin-and-the-measurement-found-that-the-resistance-of-the-corresponding-chip-pin-is-abnormal-and-the-reason-for-the-damage-is-not-clear

器件型号:TMDS181

目前、我们公司使用此芯片设计的 OPS 适配器板、在实际测试过程中、会出现相对较高的缺陷(5%)。 在分析缺陷产品时、发现芯片的相应引脚对地电阻异常(如下图所示:正常值约为0.581V、异常情况为0V 或0.841V)。 相关的异常芯片引脚如盒 TMDS2+等所示。) 帮助确认可以检查哪些方面是否存在相应的电阻异常。 此外、您是否可以向网站发送人员以获取指导?

芯片损坏引脚的物理图片::

2、芯片:的损坏引脚对应的原理图

芯片:使用的 PCBA 物理映射

PCBA 的整个结构::

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    您好!

    您的原始主题中缺少图片、请发送图片吗?

    您是否还可以联系您当地的 TI FAE 以开始现场支持流程?

    谢谢
    David