我有一个 PCB 设计 、其中采用了4 - TLK10034。 这会在我的 PCB 上有效地产生16个通道。 器件的 LS 侧使用 XAUI 接口。 HS 侧馈送10G 光纤收发器。 对于16个通道中的14个通道、BER 测试看起来非常完美(对于1 TB 或更多的数据传输、没有错误)。 为了便于讨论、我将用字母(A、B、C 和 D)来指代不同的 TLK。 在 TLK 的 B 和 C 上、在 BER 测试期间这些测试不会出现任何问题。 对于 TLK、4个端口中的3个在 BER 期间不会出现问题。 一个通道(通道2)将执行以太网 ping 测试、没有任何问题(运行1分钟或更长时间时无数据包丢失)。 但是、在 BER 测试期间、我们会遇到似乎有点不稳定的流量错误(有时它运行良好一段时间、然后随机产生错误等)。 我们在 TLK D 上有类似的情况。在同一通道(通道2)上、我们会看到相同类型的 BER 误差。 其他14个通道似乎运行良好。 我们运行了环回测试、其中环回是在 LS 和 HS 侧内部完成的。 由于在 LS 侧内部或外部运行环回会产生相同的结果、因此 HS 侧似乎存在问题。 我们已经检查了所涉网的物理方面。 TLK A 通道2 HS 端口与光学收发器之间的连接已在原理图和光绘数据中进行验证。 差分网的长度约为1600mil、与一些没有问题的通道相当甚至更短。 对于我们的配置、我们具有以下默认寄存器覆盖项...
器件地址寄存器地址缺省值要求值值值注释：
0x07 0x0000 0x3000 0x2000位12从"1"更改为"0"
0x01 0x0096 0x0002 0x0000位1从"1"更改为"0"
0x1E 0x000E 0x0000 0x000E 位1、2、3从"0"更改为"1"、以启动数据路径复位
0x1E 0x0003 0x5848
0x1E 0x0004 0x5550
由于我们连接到光学收发器、因此我们需要的第一个自动协商回合。
我们还需要进行的第二轮 KR_training、因为我们要连接到这些器件。
第三个执行第二项所需的数据路径重置。
第4个和第5个是我们通过反复试验确定的特定值、以调整通道以获得最佳性能。
上述情况下 、对 TLK10034上的4个通道中的每个通道执行相同的寄存器更新。 每个通道的值是相同的。
我们目前正在通过连接 TLK10034 GUI 的 USB 软件狗更改寄存器。 根据上述更改、我们可以在16个通道中的14个通道正常工作。 我们注意到的一点是、在数据路径复位后添加一些延迟似乎可以确定结果的稳定性和可重复性。
话虽如此、我们需要帮助调试该 PCB 上的最后两个通道。 正如我提到的、我们已经完成了物理连接(似乎没有问题)。 我们已经进行了调优以提高通道的性能(这适用于16个通道中的14个、调优不会使其余2个通道更好)。
一些有用的东西...
是否有正确的序列来执行上述寄存器更新？ (即、如果我们在执行上述寄存器更改时执行其他复位、如果将延迟插入上述序列、事件序列是否重要等)。 请提供建议。
对于调试端口时遇到的问题、是否有一个单步执行设置的过程来更好地了解问题和我们应该查找的引脚点？
我们需要解决这个问题。 在过去几周里、我们一直在尝试各种方法、但我们无法确定问题所在。
请仔细查看、尽快返回给我。 如果您需要更多信息、请告诉我您需要什么。
谢谢、
Mike Nycz
7月份，发布了以下回复。。。
尊敬的 Mike：
感谢您提供详细的报告。
1)。 此问题是否随部件或位置而变化？ 或者更好的问题是、您是否在多个电路板上看到完全相同的行为？
2)。 此外、如果 BCD 上没有流量、A3上是否会出现相同的位错误问题？
3)。 如果您使用高速示波器、您是否看到了 B&C 与 A 和 D 之间的任何差异？
4)。 此外、如果您在 A3和 A2上使用高速高阻抗差分示波器探针、同时在 A2上触发、您是否在 A3上看到抖动、漂移或波形跳跃？
您可能已经完成了这些测试、但我知道这些结果可以进一步揭示这一问题。
此致、Nasser
1的答案是、我们在另一个电路板上看到类似的结果(我们目前有2个)。
对于#2、我们一次只查看2个端口。 端口1在 XAUI 侧上环到端口2。 然后、我们将端口1和2的光纤侧连接到 Anritsu MT1000A。
我将看一下#3和#4。 我已经离开这个项目一段时间了，令人惊讶的是，这个问题并没有随着时间的推移而消失。 )
