[参考译文] DP83867IR：DP83867眼图测试失败

您好、舒成

这些次要故障通常由电路板布局布线引起。 请按照以下应用手册了解布局指南： http://www.ti.com/lit/an/snla079d/snla079d.pdf

此致、

Hung Nguyen

您好、Sirs、

感谢您的回复。

您能帮您查看我们的布局和原理图、如下所示。

原理图：

布局：

是否有任何建议可以分享？

因为我们在两个模型上存在相同的问题

顺便说一下、MDI 的位置看起来不错！

您好、舒成

MDI 对是否布局为100欧姆差分电压？

2.在 A 对和 B 对上是否都有100Base-TX 合规结果？

3.是否可以卸下 ESD 保护器件并重新测量1000Base-T？

4.对于 MDI 连接、 磁性元件的每个中心抽头应通过一个0.1uF 电容器独立地去耦接地。 有关  更多详细信息、请参阅此应用手册 www.ti.com/.../snla246a.pdf。

此致、

Hung Nguyen

您好、Sirs、

 更新如下

MDI 对是否布局为100欧姆差分电压？   是 100欧姆差分电阻

2.在 A 对和 B 对上是否都有100Base-TX 合规结果？   是 ，请参阅以下内容

e2e.ti.com/.../100_5F00_Base_2D00_T.zip

3.是否可以卸下 ESD 保护器件并重新测量1000Base-T？ 是的、仍然失败

4.对于 MDI 连接、 磁性元件的每个中心抽头应通过一个0.1uF 电容器独立地去耦接地。 有关  更多详细信息、请参阅此应用手册 www.ti.com/.../snla246a.pdf。  是的、

您好！

-您的原理图显示了每个 MDI 引脚上的0.25pF 电容。 确保未安装这些盖。

- 4个通道的中心抽头在 MagJack 内部连接在一起。 不建议用于此器件。  请参阅应用手册 http://www.ti.com/lit/an/snla246a/snla246a.pdf

此致、

Hung Nguyen

您好、Sirs、

感谢您的回复。

0.25pF 电容保留、未组装。
2.我们将与 Magvender Jack 讨论以检查此问题。

实际上、我们希望使用 EVM 进行验证、但我们不确定 EVM 是否会通过此报告。
那么、TI 是否有此测试报告可以分享？

谢谢！！

您好、Sirs、

更新我们的测试结果。

0.25pF 电容保留、未组装。

2. 我们使用了另一个 MB 来测试和更改中心抽头内未连接的 RJ45连接器。

 这一现象与以前一样，报告如下

e2e.ti.com/.../change-conn_5F00_ESE0273082.zip

欢迎提出任何建议。 谢谢！！

您好、Sirs、

我们的评论如下、您能帮助检查是否正确？

MII 写入0x05 0x001f 0x8000

MII 写入0x05 0x0000 0x0140

MII 写入0x05 0x0010 0x5008

MII 写入0x05 0x0009 0x3B00

MII 写入0x05 0x000d 0x001f

MII 写入0x05 0x000e 0x0025

MII 写入0x05 0x000d 0x401f

MII 写入0x05 0x000e 0x0480

MII 写入0x05 0x000d 0x001f

MII 写入0x05 0x000e 0x01d5

MII 写入0x05 0x000d 0x401f

MII 写入0x05 0x000e 0xF508

报告中的故障项目如下所示  

您好、舒成

有趣的是、当您更改 MagJack 时、故障通道从 A、B 更改为 B 和 D。我想知道其他1000Base-T 测试是否通过。

1.您能否为所有通道提供其他1000Base-T 测试结果(包括回波损耗)？

2.是否可以删除最后4个寄存器写入以查看是否有差异？

MII 写入0x05 0x001f 0x8000

MII 写入0x05 0x0000 0x0140

MII 写入0x05 0x0010 0x5008

MII 写入0x05 0x0009 0x3B00

MII 写入0x05 0x000d 0x001f

MII 写入0x05 0x000e 0x0025

MII 写入0x05 0x000d 0x401f

MII 写入0x05 0x000e 0x0480

MII 写入0x05 0x000d 0x001f   =>删除

MII 写入0x05 0x000e 0x01d5   =>删除

MII 写入0x05 0x000d 0x401f   =>删除

MII 写入0x05 0x000e 0xF508   ===删除

3.如果是数字2。 没有帮助、请尝试分别在每个通道上打开测试模式：

MII 写入0x05 0x001f 0x8000

MII 写入0x05 0x0000 0x0140

MII 写入0x05 0x0010 0x5008

MII 写入0x05 0x0009 0x3B00

MII 写入0x05 0x000d 0x001f

MII 写入0x05 0x000e 0x0025

MII 写入0x05 0x000d 0x401f

MII 写入0x05 0x000e 0x0400   => 0x0400 =通道 A；0x0420 =通道 B；0x0440 =通道 C；0x0460 =通道 D

MII 写入0x05 0x000d 0x001f   =>删除

MII 写入0x05 0x000e 0x01d5   =>删除

MII 写入0x05 0x000d 0x401f   =>删除

MII 写入0x05 0x000e 0xF508   ===删除

此致、

Hung Nguyen

您好、Sirs、

感谢您的回复。

首先，TI 是否有 DP83867IRRGZT 测试报告？ 因为我们以前实际上没有使用 TI 千兆 PHY。

我们不确定它是否 是 IC 限制？

回答为红色单词  

1.您能否为所有通道提供其他1000Base-T 测试结果(包括回波损耗)？

我们更改了2~3项测试、但仍然失败。

失败不一定具有 AB 或 BD。 每一件都不同、但所有这些都不会通过。

2.是否可以删除最后4个寄存器写入以查看是否有差异？

MII 写入0x05 0x001f 0x8000

MII 写入0x05 0x0000 0x0140

MII 写入0x05 0x0010 0x5008

MII 写入0x05 0x0009 0x3B00

MII 写入0x05 0x000d 0x001f

MII 写入0x05 0x000e 0x0025

MII 写入0x05 0x000d 0x401f

MII 写入0x05 0x000e 0x0480

MII 写入0x05 0x000d 0x001f    =>删除

MII 写入0x05 0x000e 0x01d5    =>删除

MII 写入0x05 0x000d 0x401f    =>删除

MII 写入0x05 0x000e 0xF508    ===删除

移除这四条线将会异常。  

还确认了单独发送四个线对不会影响测试结果。

您好、Sirs、

顺便说一下、  

您知道01D5=0XF508的功能是什么吗？
如果删除、则波形将更小。

我们希望调整该值、使其稍大一点。