[参考译文] DS26LS31MQML：DS26LS31MJ

Alok、

不应因驱动接收器而损坏发送器。   可能会暴露在电气过载中。  ESD 或接地问题？

您能否提供原理图？

SYS1和 SYS2是否共用接地？  (通过电缆？)

作为测试的一部分、sys1和 sys2是否断开连接/重新连接？ (可能的 ESD 暴露？)

哪些通道未连接故障？  是否也连接了电缆？  

故障后输出看起来是什么样的？

此致、

涉水

您好！

 请在随附的文件中找到原理图。

是的、SYS1和 SYS2 通过电缆共享公共接地。

否、 作为测试 sys1和 sys2的一部分、未断开连接/重新连接。

通道1和通道3通过单独的电缆连接到其他系统、并且工作正常、未使用通道3。

驱动器的输出为高电平、而输入正常。

此致

阿洛克

非常奇怪。

您是否在受损的工作信道上以及其他工作信道之一上有数据的范围截图？

器件运行时的温度是多少？  这是否已经过测量？

您的电缆阻抗是否为100欧姆、以匹配您的终端？

谢谢、

涉水

尊敬的先生：

这些系统在室温下运行。 在客户实验室中测试装置。

我们在仅使用环回功能检查端口后提供了该装置。

由于单元位于客户位置、我们将尝试获取波形。

但请记住、在驱动器的所有输入和工作通道上的输出上切换的波形(数据)是切换 的、并且在故障通道中为高电平。

由于故障再次发生、我们已放置 IC 基座并替换为新 IC。 观察结果是最初与系统2进行一次或两次通信成功、然后观察到故障。 在某些情况下、最初仅观察到通信故障。 当在所有故障单元中进行测试时，TX+、TX-在输入正常时未切换。 使用 DS26LS31MJ 可以观察到所有这些情况

意外的是 、我们在库存中看到了三个 IC AM26LS31MJ、并尝试了它们、所有 IC 都运行良好。 由于我们无法在 已供应的许多器件中进行更换、因此我们希望找出相同原因的根本原因。 两种情况下都使用相同的电缆。 在接收器端(SYS2)有120 Ω 终端

请尽快回来。  DS 和 AM 芯片之间是否有任何差异？

此致、

Alok Ranjan

Alok、

我想在示波器快照上看到 RX 的输入。  使用眼图类型的捕获来捕获多个数据也很好。  也可能在较大的电压上设置触发器、以查看是否出现任何尖峰。

有一些会对 RX 造成压力、因此我们估计它会损坏输入。  

您知道导致问题的 TX 源 IC 和原理图吗？

RX 可能会看到尖峰或其他异常？

器件发生故障前的工作持续时间是多久？  是否在一段时间后所有装置在此通道上发生故障？'

这两个器件是唯一设计的、因为一个器件来自 National。  但是、它们的功能与类似的规格相当。

此致、

涉水

尊敬的先生：

我认为存在沟通差距。 TX+和 TX-损坏(因为该芯片是四路驱动器、而不是接收器)

大多数芯片 会立即发生故障，有些是在几次操作后发生故障(例如几分钟)

此致、

Alok Ranjan

是的、很抱歉。

我说错了。  明白。  

请仍捕获示波器快照。   它可以让您深入了解潜在问题。

如果可能、是否可以将其他通道之一连接到 SYS2以查看它是否会导致不同通道上的故障？

这样会损坏 TX 是毫无意义的。   

您能否确认使能信号上的电压？

根据原理图、它们是 VCC 5V。

今天和星期一大部分时间我都是 OOO。

此致、

涉水

尊敬的先生：

我们已经与客户进行了讨论。 它们无法将其他通道连接到 SYS2。

另外、由于无法访问、Tx+和 Tx-也无法通过连接的 SYS2进行监控。 如果出现故障、则仅在卡级测试装置中移除并测试四路驱动器所在的卡。

C/D 和 A/B 引脚处于+5V 电平

此致、

Alok Ranjan

Alok、

我还有几个问题可能有助于确定原因。

1) 1)您能否在连接到负载时探测输出？  我相信您表示不会  如果不是、您能否使用单独的负载进行探测？  我们想了解驱动器输出是否降级或根本无法正常工作。

2) 2) 2)您能否为驱动器提供输入的示波器截图？   该输入可能会受到 EOS 损坏、这就是该通道发生故障的原因。  此通道是否与其他工作通道共享相同的驱动器源？  什么是源？

3) 3)如果您移除了器件、是否可以对差分输出进行曲线绘制并与工作输出进行比较？   这将很好地指示发送器是否损坏。   这也可以通过输入来实现。

此致、

涉水