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[参考译文] SN65HVD234:不良 ACKN 的温度问题

Guru**** 2387080 points
Other Parts Discussed in Thread: SN65HVD234
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/interface-group/interface/f/interface-forum/749125/sn65hvd234-temperature-issue-with-bad-ackn

器件型号:SN65HVD234

尊敬的团队:

我们的客户在可能的温度下遇到了 SN65HVD234的温度问题。  随附  的说明请作为起点。 我还收到了可离线发送的测量值。 以下是行为的描述:  
 
我们正在对新产品进行最终热鉴定、然后再将其发布销售、我们遇到了 CAN 总线问题、这是我们无法理解的。  我们的产品在背板上使用 CAN 总线、端接在背板上。 背板短(不到1米)、在多层 PCB 上运行传输线路。

受测的 CAN 网络有一个管理器和12个设备、因此是一个小型网络。

尽管这不是绝对跳变点、但在-40C 左右的低温下似乎会出现此问题。  系统运行温度低至-60C、看起来稳定。

受测系统在背板上插入了一个特定的卡、尽管有多个卡插入网络、但该卡似乎会导致与其紧邻的 CAN 总线出现故障、而这些卡不会直接受到影响。

导致 CAN 网络出现问题的症状是应答位错误。  可疑卡的邻居对背板管理器发出的消息发出响应、但确认信号未正确下降、且保持过高的时间过长。  因此、错误确认会导致 CAN 控制器的自动重试机制踢进网络、并通过重复的消息泛洪网络。  CAN 控制器是 STM32F105 MCU 的一部分。

我们怀疑有一个特定的卡导致了该问题、因为当我们移除可疑卡时、相邻设备上不再出现错误的 ACK。  但是、如果一个器件确实导致了直接邻居的问题、则网络上的任何其他模块上都没有错误的 ACK 是很奇怪的。  

我们必须尽快发布此产品、因此我们非常感谢您为帮助我们解决此问题而提供的任何帮助。  请告诉我们电话会议或 WebEx 是否有助于提供进一步的解释。

请提出建议,如何继续!

Lutz

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。
    你好、Lutz、

    如果您可以通过电子邮件将您提到的测量结果发送给我、我有兴趣查看这些测量结果。 从上面的信息可以看出、问题是第二个隐性但隐性-显性-隐性 ACK 定界符未及时达到适当的低差分电压。 这是 CAN 总线中的一个常见问题、因为多个节点可以同时驱动显性 ACK 位、这会导致该位的差分振幅更高。 然后、总线需要很长时间才能完全"衰减"到隐性电平。 由于驱动器输出阻抗和隐性偏置强度会随温度的变化而变化、因此该定界符的问题可能仅在特定温度下出现。

    解决这一问题有几种策略。 一种方法是更改 CAN 控制器中的采样点配置、使其更接近位的末尾、从而为显性到隐性转换留出额外的时间。 另一种方法是减小总线的有效负载电阻(例如、通过在某些节点上添加更高阻抗的端接)。 这会将 ACK 位的振幅减小一点、并加快向隐性状态的转换、但应注意不要施加比驱动器支持的负载阻抗更小的负载阻抗。 另一种策略是尝试尽可能减小容性负载。 (某些节点可能会添加额外的电容以实现滤波、如果是、这些电容可以减小或移除。) 另一种解决方案是以较低的数据速率运行、尽管我意识到解决方案的吸引力可能会降低。

    此致、
    最大
  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。
    谢谢 Max、

    我将单独向您转发图。

    Lutz