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[参考译文] HD3SS3212:大号和#39;超出规格#39;阻抗变化有一点问题

Guru**** 2747345 points
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/interface-group/interface/f/interface-forum/701667/hd3ss3212-large-out-of-spec-impedance-variation-a-little-bit-of-a-concern

器件型号:HD3SS3212

我们正在认真考虑在我们的 USB3.1第2代通道中使用此器件。 在 TI 提供的 s 参数模型中、INS 损耗在高达4GHz 的频率下看起来正常、但之后会出现滚降、这是一个相当小的问题-因为通道的大多数其他部分都要好得多。 [在7.5GHz 的频率下、IL 比22in 的电缆差。]

但是、在 USB 建议的 TR=40PS 时、阻抗曲线对于 Zdiffmin/max 60ohm/120欧姆的偏移更有问题。 这似乎有点极端-而且肯定解释了5GHz 之后的大多数滚降。 我的问题是1)我的 S 参数模型是否准确/真实? 它是否相关?.. DiffZ 是否真的如此极端? 2) 2)如果我担心 a)这是相当短的不连续性 、但 b) USB3.1 Gen2的规格为 86欧姆+/- 10欧姆。

任何见解或建议都将有所帮助。

Greg Fitzgerald

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