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[参考译文] DP83867CR:1000 Base-T 合规性测试

Guru**** 2538930 points


请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/interface-group/interface/f/interface-forum/729752/dp83867cr-1000-base-t-compliance-test

器件型号:DP83867CR

您好!

我的客户在1000 Base - T 合规性测试中具有以下结果。

-1000 Base-T,差分 A,B 峰值输出电压(带干扰信号):故障
- 1000 Base-T,点 F 模板测试(带干扰信号):失败
-1000 Base-T,第 H 点模板测试(带干扰信号):失败
-1000 Base-T,发送器失真(带干扰信号):失败
-1000 Base-T,MDI 共模输出电压:故障

我有疑问。
1.是否有调整寄存器可通过合规性测试?
2.是否有方法连接外部组件(如电阻器)以调整合规性测试并对其进行调整?

感谢您的合作。

此致、  
Kaede Kudo