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[参考译文] SN55LVDS31-SP:偏差规格是否涵盖了相似和相似的边缘?

Guru**** 2510095 points
Other Parts Discussed in Thread: SN55LVDS31, SN55LVDS31-SP

请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/interface-group/interface/f/interface-forum/1196942/sn55lvds31-sp-does-skew-specification-cover-like-to-like-and-like-to-unlike-edges

器件型号:SN55LVDS31-SP
主题中讨论的其他器件:SN55LVDS31

我正在尝试使用 SN55LVDS31验证项目的时序、但 Tsko 有点含糊。 我需要知道通道间偏差是仅针对相似边沿定义的、还是也涵盖了相似边沿。 如果不是、是否可以安全地假设 TPLH 和 Tphl 跟踪、因为其中一个不会同时处于组件内的最小规格、而另一个不是处于最大规格?

非 SP 数据表(https://www.ti.com/lit/ds/slls261n/slls261n.pdf)中类似的 SN65xxx 部分包含 Tsko 的注释、该注释明确指出仅针对相同方向的偏差、但-SP 或非 SP 数据表中没有 SN55xxx IC 的此类指示。

感谢你的任何帮助。

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    Josh、您好!

    SN55LVDS31-SP 通道到通道输出偏斜数据是在与非 SP 器件相同的测试条件下测得的。 Tsko 仅为相似边线定义。

    此致、

    Josh