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[参考译文] TPD4E05U06:关于闩锁测试结果

Guru**** 1489625 points
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/interface-group/interface/f/interface-forum/1208525/tpd4e05u06-about-latch-up-test-results

器件型号:TPD4E05U06

高支持团队。

我检查了可靠性测试数据、但无法确认、因为没有提到闩锁测试。

您能告诉我 TPD4E05U06DQAR 的闩锁测试结果吗?

谢谢。

yutaro

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    Yutaro、您好、

    该器件不存在闩锁风险、因为它不是深度快速复位二极管。 闩锁仅 适用于具有深度快速复位的二极管、其中保持电压( Vh )远低于击穿电压 ( VBR )工作电压( 伏尔姆 )。  

    此致、

    Sebastian