[参考译文] TUSB2E11：输出差分与规格

您好、Austin：

感谢您指出这一点！  可能是一个拼写错误。  我会联系作者并告知您相关解释。

此致、

尼古拉斯

您好、Austin：  

规格和数据表之间的 TX_DIF 测量方式略有不同。

在数据表中、您将看到、TX_DIF 是 以 Tx_CM 为基准进行测量的、并且只是来自0V 的"峰值"测量值。  数据表中的 Tx 差分测量值为"P2P"或以0V 为基准的峰峰值。  这就是为什么测量值会翻倍的原因。

如果有道理、请告诉我。

此致、

尼古拉斯

嗨、Nicholaus：

谢谢您的讲解。  

我阅读后发现、此接口的共模设置为200mV (数据表中的 VE_TX_CM 与 eUSB spev 中的 VTX_CM 匹配)。
因此、即使 Vpp 为400mV、这也意味着：

400mV 时的 VTX_ED+、

VTX_ED-为0V、

差分摆幅为400mV。 (｛200+200｝–｛200-200｝)？

例如、如果 CM 为300mV、这会有所不同、那么400mV 的 Vpp 差分可能意味着：

400mV 时的 VTX_ED+

VTX_ED-在200mV、

差动摆幅为200mV。(｛100+300｝–｛300-100｝)

您能确认是哪一个吗？

谢谢！

奥斯汀·艾伦