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[参考译文] DP83822H:辐射和可靠性

Guru**** 605955 points
Other Parts Discussed in Thread: DP83822H, DP83561-SP
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https://e2e.ti.com/support/interface-group/interface/f/interface-forum/1246504/dp83822h-radiation-and-reliability

器件型号:DP83822H
主题中讨论的其他器件: DP83561-SP

 是否有适用于 DP83822H 的辐射和可靠性报告?

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    尊敬的 Anthony:

    我不熟悉辐射和可靠性报告。 您希望在该报告中包含哪些内容?

    您可以在此处找到质量、可靠性和封装报告。 这是您要找的器件吗?

    谢谢。

    大卫

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    尊敬的 David:

    我正在查找与下面链接的报告类似的辐射报告。 这些报告 从破坏性单粒子效应(DSEE)的角度指定了辐射对组件的影响。 我想知道是否已完成任何辐射测试、如果已完成、是否有任何有关 DP83822H 可用单粒子锁定(SEL)和单粒子瞬变(SET)的数据。

    供参考:

    DP83561-SP 单粒子效应(SEE)辐射报告

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    尊敬的 Anthony:

    尚未对 DP83822进行辐射测试。 仅我们的航天级 PHY DP83561-SP 采用了这种方法。 您是否需要航天级器件?

    谢谢。

    大卫

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    尊敬的 David:

    我正在寻找抗辐射器件。 我相信航天级器件会起作用。 感谢你的帮助。

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    尊敬的 Anthony:

    在这种情况下 、请来看看  DP83561-SP、它是我们唯一的航天级 PHY。

    谢谢。

    大卫