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[参考译文] DS80PCI102:X 射线影像出现故障

Guru**** 2386620 points
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/interface-group/interface/f/interface-forum/1260527/ds80pci102-defect-is-occurred-in-x-ray-image

器件型号:DS80PCI102

大家好、  

客户发现 X 射线图像中存在缺陷。  他想知道:

1.cause of 缺陷

2.此类缺陷是否会影响功能

此致、

安妮

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    大家好、

    该问题有任何更新吗?

    此致、

    安妮

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    尊敬的 Annie:

    很抱歉、由于 E2E 离线而延迟了响应。  

    但是、请确认您的设计中是否已使用此组件、以及您看到的功能问题。 此外、您能否确认工作设备显示相同的 X 射线?

    此致、Nasser

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    尊敬的 Nasser:

    尚未使用,他们只是发现从 X 射线图像的缺陷。 下面的照片是来自良好的部分。

    他们想知道:

    1.cause of 缺陷

    2.此类缺陷是否会影响功能

    此致、

    安妮

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    尊敬的 Annie:

    建议首先在测试板或评估板上使用此器件。 这可能不会影响功能、因为与实际的键合线相比、使用的塑封似乎更多。  完成后、请告知我们、如果需要、我们可以采取下一步。

    此致、Nasser