[参考译文] ESD441：泄漏电流

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请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/interface-group/interface/f/interface-forum/1270626/esd441-leakage-current

器件型号：ESD441

您好！

我对 ESD441的泄漏电流有一些疑问。

数据表提供了在 VIO = 5.5V 条件下的泄漏电流规格(典型值和最大值)、但在 VIO = 0.1V、1V、2V 和3V 的不同条件下、典型值/最大值规格是否可用？
数据表中图6-7的 VIO 状态是什么？
当泄漏电流达到50nA 的最大值时、会出现哪些情况？
- 从图6-7可以看出、ILEAK 随温度变化不是很显著。

此致、
横田真一

2 年多前

0 admin 2 年多前

TI__Guru**** 2507255 points

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尊敬的 Shinichi：

对于我们的器件、泄漏电流规格满足 VIO =工作电压(VRWM)的条件。专门针对 ESD441、为 VIO = 5.5V。

图6-7具有 VIO = 5.5V
若要查看不同条件下的泄漏电流、IV 曲线是理想选择。这是从0到5.5V 的变化、记录了泄漏电流、还显示了击穿时泄漏的增加。

如果您有其他问题、敬请告知。

此致、

麦肯齐·艾克

0 admin 2 年多前

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Kenzie、

Unknown 说：

若要查看不同条件下的泄漏电流、IV 曲线是理想选择。这是从0到5.5V 的变化、记录了泄漏电流、还显示了击穿时泄漏的增加。
[/报价]
我想数据表中的直流 I-V 曲线(图6-9)包含了我请求的信息、但您能以数字形式与我分享一下吗？

weizhou guan 说：

当泄漏电流达到50nA 的最大值时、会出现哪些情况？

从图6-7可以看出、ILEAK 随温度变化不是很显著。

[/报价]
我想最大值50nA 不是温度变化、而是过程变化。是这样吗？

此致、
横田真一
[/quote]

0 admin 2 年多前

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尊敬的 Shinichi：

是的、原始数据显示：

VIO = 0.1V ->泄漏电流= 0.015nA

VIO = 1V ->泄漏电流= 0.2nA

VIO = 2V ->泄漏电流= 0.5nA

VIO = 3V ->泄漏电流= 0.8nA

最大值由设计/验证团队设置。在正常工作条件下、器件不太可能达到最大泄漏电流。一旦发生击穿、泄漏电流将增加到最大50nA 以上。

如果您有更多问题/评论、敬请告知。

此致、

麦肯齐

0 admin 2 年多前

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McKenzie、

感谢您提供的原始数字。

Unknown 说：
最大值由设计/验证团队设置。在正常工作条件下、器件不太可能达到最大泄漏电流。一旦发生击穿、泄漏电流将增加到50 nA 最大值以上[/报价]
我知道,我不知道。我也不问故障情况。

我知道分布数据是在验证过程中获取的、并且规格是基于该数据通过考虑±3σ、±6σ 或其他因素来确定的。如果我看一下数据表的图6-7、温度变化看起来比数据表中的规格50nA 小得多、我认为规格不是由温度变化决定的。因此、我怀疑过程变化大于温度1、最大规格50 nA 由它决定。

您能否与您的团队再次核实一下？

此致、
横田真一

0 admin 2 年多前

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尊敬的 Shinichi：

我与我们的验证团队讨论过这个问题。这是他们告诉我的：

我们的器件在工艺上没有变化。它是一种成熟的电压节点、我们的分布极其紧密。对于大多数器件、在25°C 时、泄漏电流不超过1nA；在温度较高时、泄漏电流可能会增加、但在较低侧(永远不会达到50nA)。

希望这会将它清除。如果您有其他问题、敬请告知。

此致、

麦肯齐

0 admin 2 年多前

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McKenzie、

谢谢。现在、我知道50nA 的最大 ILEAK 规格定义了很大的裕量。

此致、
横田真一

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