This thread has been locked.

If you have a related question, please click the "Ask a related question" button in the top right corner. The newly created question will be automatically linked to this question.

[参考译文] ISO7763-Q1:输入高电平、输出短路时的损坏时间

Guru**** 1646690 points
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/isolation-group/isolation/f/isolation-forum/1124852/iso7763-q1-the-damaged-time-when-input-high-output-is-short

器件型号:ISO7763-Q1

您好,

功能安全应用手册描述了“ 如果 INE 长时间被驱动为高电平可能会损坏器件”。 客户需要知道导致 IC 损坏的时间段。

https://www.ti.com.cn/cn/lit/fs/slla514/slla514.pdf

此致

Kailyn  

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    您好 Kailyn、

    感谢您的联系。

    当输出走线一直处于低电平并且输入 INE 被驱动为高电平时、输出被强制为高电平和低电平有可能同时导致一个 VCC/GND 短路。 此类 VCC/GND 短路的时间长度实际上取决于客户应用和连接到相应 VCC 的电源的电流限制。 由于我们没有针对这些测试条件进行表征、因此我没有任何可保证的数据来提供给您。 但我不会指望这会持续很长时间、器件可能会在几秒到几分钟内损坏。

    我希望这能回答你的问题,谢谢。


    此致、
    Koteshwar Rao