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[参考译文] ISO7841:2G/3G/4G 调制解调器的干扰导致数据损坏。

Guru**** 1810550 points
Other Parts Discussed in Thread: ISO7841, ISO7741, ISO6741, ISO7341C
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/isolation-group/isolation/f/isolation-forum/994815/iso7841-interference-from-2g-3g-4g-modem-causing-data-corruption

器件型号:ISO7841
主题中讨论的其他器件: ISO7741ISO6741ISO7341C

我们使用 ISO7841DWW 器件来隔离持续测量240V 市电电压的 ADC。 我们已诊断出从2G/3G/4G 调制解调器传输到 ISO7841期间存在一些数据损坏。 我们发现、应用载波频率为800MHz 的射频突发会导致以下行为。

ISO7841输入、无射频

带有 射频的 ISO7841输入

ISO7841输出、无射频

具有射频的 ISO7841输出

正如您在最后一幅图像中看到的、信号边沿不再稳定、并且显示出明显的抖动。 在这些条件下、ADC 数据损坏。

然后、我们使用  IL717-3E 隔离器更换了此部件、问题已解决。

带射频的 IL717-3E 输出

边沿是如何稳定的。

我们已尝试各种解决方案(包括此类似文章 e2e.ti.com/.../iso7841-carrier-frequency-and-gsm-immunity 中提供的解决方案 )来解决 ISO7841的此问题。 然而,我们没有运气。 您能否提供有关 ISO7841器件为何比其他隔离器更容易受到 GSM 干扰的信息、以及是否有任何其他方法可提高 ISO7841的射频抗扰度。  

为了确认我们已经尝试过其他 TI 隔离器(例如 ISO7741)、它们也遇到了同样的问题。

此致

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    您好、Robert、

    感谢您的联系、很遗憾听到您所面临的问题。

    [引用 userid="484381" url="~/support/isolation/f/isolation-forum/994815/iso7841-interreference-from-2g-3g-4g-modem-causing-data-corruption "]

    具有射频的 ISO7841输出

    [/报价]

    我相信您是想分享另一张图片来显示 ISO7841输出端的抖动、而是不小心选择了上一张图片。 请务必分享 ISO7841输出端显示抖动的波形。

    ISO7841以及 ISO7741和 ISO6741采用 OOK 架构、其中~450MHz 载波用于调制输入信号并通过隔离栅进行传输。 如果辐射源离 ISO7841太近、频率接近~450MHz 或其谐波的外部辐射可能会干扰 ISO7841通信。 当射频调制解调器位于同一 PCB 且非常靠近隔离器时、这种情况更有可能发生。 为了解决这个问题、我们建议在 ISO7841的 GND1和 GND2之间使用拼接电容器。 您提到您已经尝试了建议的解决方案、您能否分享有关已尝试的具体内容的更多详细信息? Y 电容器还是使用内部 PCB 层形成的拼接电容器? 我可以知道电容器的值吗?

    请注意、ISO7341C 等较早的器件系列使用不同的架构、而不需要此类高频载波。 因此、我们不希望这些器件受到任何附近辐射的影响。

    请务必分享请求的信息、以进一步帮助您解决问题。谢谢。


    此致、
    Koteshwar Rao

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    您好、Koteshwar、

    感谢您的快速响应。

    "我相信您是想分享不同的画面来显示 ISO7841输出端的抖动、而是不小心选择了上一幅图像。 请务必分享 ISO7841输出端显示抖动的波形。"

    是的、我更新了屏幕截图。

    我将记录我们很快尝试过的确切解决方案。

    "请注意、ISO7341C 等较早的器件系列使用不同的架构、而不需要此类高频载波。 因此、我们不希望这些器件受到任何附近辐射的影响。"

    我们需要11mm 的间隙和5.4KV 的5s 隔离。 这就是我们使用 ISO7841DWW 的原因。 您是否了解任何符合此要求的 TI 产品?

    此致

     

     

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    您好、Robert、

    感谢您的参与。 遗憾的是、DWW 封装仅在 ISO78xx 系列和器件 ISO7741中可用。 您可以考虑的另一种方法是使用两个串联的 ISO7341C 器件来实现更高的间隙。 我知道这不是最佳解决方案、因为它需要额外的电源轨、我只是尝试为您提供其他选项、除了解决当前正在评估的解决方案的问题。

    我将期待您对您尝试解决该问题的实验的意见。 谢谢。


    此致、
    Koteshwar Rao

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    您好、Robert、

    我想回顾一下、看看您是否有机会记录您已经尝试过的解决方案。 谢谢、请分享。


    此致、
    Koteshwar Rao

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    大家好、我们在 GND 引脚上安装了一个100pF Y6P 电容器、这没什么影响。

    我们发现、将 IFM16-030EB300X200剪切到 隔离器之上可以有效地消除测试设置中的问题。 但是、这可能是由于我们的天线的位置所致。 但必须指出的是、该器件上的 EMI 吸收器会产生很大的影响。 作为一种解决方案、这是一种导电材料(尽管绝缘层非常薄)、会影响我们的爬电面积。 我们正在审查我们的标准、以了解我们是否有方法可以安全地使用此材料。

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    您好、Robert、

    感谢您的宝贵意见、了解这一点非常有用。
    是的、金属板确实有助于从任何方向吸收排放、我同意它们不是很容易整合。

    是否可以分享器件和 Y-Cap 的照片、以展示如何将其焊接到器件上? 该电容器对于远场发射抑制的效率要高得多、但对于近场发射、噪声耦合机制可以不同/多种。 如果可能、请尝试将此电容值增大到1nF 甚至4.7nF、并将其直接焊接到器件 GND 引脚上、引线可能最短。

    我期待您的意见、谢谢。


    此致、
    Koteshwar Rao

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    您好、Robert、

    由于后续步骤已明确定义、我将继续并将此 E2E 主题标记为已关闭。 获得测试结果后、请与我们分享测试结果。 谢谢。


    此致、
    Koteshwar Rao