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[参考译文] ISO7740:CL (容性负载)与数据速率间的关系

Guru**** 2413360 points
Other Parts Discussed in Thread: ISO7740

请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/isolation-group/isolation/f/isolation-forum/807432/iso7740-cl-capacitive-load-vs-data-rate

器件型号:ISO7740

尊敬的技术支持团队:

如果您有 CL (容性负载)与数据速率间的关系、请提供建议?

我想知道 ISO7740是否驱动 CL >50pF。

较大的 CL 通常会使波形变钝、因此较慢的数据速率会更好。

如果您对大型 CL 有任何顾虑,您能否与他人分享?

此致、

TTD

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    TDD、

    遗憾的是、我们没有任何可用于不同数据速率和负载电容的波形。 我们所能得到的只是数据表第7.19节典型特性中的数据、该数据最高仅为15pF。 您想要分析哪些数据速率? 什么应用中的负载电容大于50pF?

    尊敬的、
    卢卡斯

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    Lucas-San、您好!

    我们将检查您的观点。
    顺便说一下、SLLA284B 应用手册包含了 ISO7240的输出阻抗信息。 您是否还有关于 ISO7740的此类信息?
    我认为时间常数可以通过输出阻抗和容性负载来估算。 你怎么看?

    此致、
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    供参考、

    此主题已转到电子邮件对话。 电子邮件中的答案将在此处发布。

    尊敬的、

    卢卡斯

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    大家好、TTD、Sato-San、

    电子邮件对话的更新内容如下:

    虽然未指定 ISO7740可驱动的最大容性负载、但在驱动略高于50pF 的负载时不会出现问题。 较高的负载电容会影响上升和下降时间、从而导致可支持的最大数据速率上限。

    目前正在进行分析、以检查 ISO7740是否可以消除竞争对手器件出现的问题、并且无需后续文章。


    感谢你能抽出时间、
    Manuel Chavez

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    Manuel–San、您好!

    感谢您的评论。

    此致、