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[参考译文] ISOM8110：重新确认对作为长寿命基础的可靠性数据披露请求的回应

admin
Guru**** 2411110 points
Other Parts Discussed in Thread: ISOM8110

请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/isolation-group/isolation/f/isolation-forum/1296530/isom8110-reconfirmation-of-response-to-request-for-disclosure-of-reliability-data-that-is-the-basis-for-long-life

器件型号：ISOM8110

Andrew、感谢您的帮助。 这是仓田。
上个月(大约在10月底)、我们收到了 TI 社区的回复、回复``re要求披露支持长寿命的可靠性数据'。 我谨就这一事项再次确认以下情况：
"数据表中显示的 CTR 性能是对器件寿命的预期。 作为器件表征和鉴定的一部分、对器件进行测试和应力测试、以确保在推测时间内的数据表参数。
您可以预期 CTR 性能在器件的使用寿命内保持不变(在数据表参数范围内)。"
理解这种解释是否正确、这意味着相关仿真器 ISOM8110的 CTR 值已通过可在 IEC_60747-17认证测试中达到20年标准使用寿命的详细评估测试证明为证据？

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    TI__Guru**** 2411110 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    您好 Akira-San、  

    感谢您与我们联系。 如果此问题与另一个 E2E 主题相关、请重新连接以供参考。

    user5356750 说：
    "数据表中显示的 CTR 性能是器件生命周期的预期结果。 作为器件表征和鉴定的一部分、对器件进行测试和应力测试、以确保在推测时间内的数据表参数。
    您可以预期 CTR 性能在设备的使用寿命内保持不变(在数据表参数范围内)。"

    是的、这是正确的。 不过、需要说明的是、根据 TI 的内部标准和行业标准测试和鉴定、在器件的寿命期内对 CTR 进行评估。 CTR 不是 DIN EN IEC 60747-17 (VDE 0884-17)定义的规范。 IEC_60747-17认证测试专门测试隔离材料的完整性。  有关 IEC 60747-17包含和认证的 规范、请参阅数据表表表表7.4绝缘规范的 VDE 0884-17部分。

    此致！
    安德鲁

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    TI__Guru**** 2411110 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    这是仓田。

    Andrew、感谢您的回复。

    在您的回复中、我们认识到 DIN EN IEC 60747-17 (VDE 0884-17)标准是一项确保绝缘膜使用寿命相关可靠性的标准、而不是 CTR 值特性。

    我这次提出的问题是、我想知道具体的依据并证明作为此器件的转移特性的 CTR 具有与绝缘膜相同的寿命耐久性。

    在您之前的回答中、您说过、``您可以在数据表中保持 CTR 特性值、这相当于绝缘膜的使用寿命。'

    "预期价值"是一种用于一厢情愿的表达方式、听起来像是一种缺乏确定性的模糊表达方式。

     

    请详细说明"预期值"的依据、该值可使 CTR 值的特性值保持到绝缘膜的使用寿命。

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    TI__Guru**** 2411110 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    地址：Kurata-San、  

    很抱歉耽误你的时间。

    简而言之、 只要 器件在建议的运行条件下运行、数据表参数(最小值和最大值)就在所列测试条件  的 TI 保修范围内。  

    例如、CTR 在25摄氏度和表中指定的电流下进行测试。 在这些条件下、CTR 将 在 器件整个寿命期间在额定最小值和最大值范围内运行。    有关保修的更多信息、请参阅质量和可靠性。  

    隔离栅的使用寿命如数据表中所示(使用 TDDB 曲线)、是 DIN EN IEC 60747-17 (VDE 0884-17)的一部分。 我们的光耦仿真器当前正在接受认证过程、目前未提供 TDDB 数据。  

    ISO672x 可用作参考、但是、TDDB 数据会有所不同(请参阅9.3绝缘寿命和图9-8。 以8-D 封装的绝缘寿命预测数据为例)。   

    我希望这一点能得到澄清、并随时跟进。  

    此致！
    安德鲁

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    TI__Guru**** 2411110 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    这是仓田。
    尊敬的 Andrew：
    再次感谢您的答复和解释。
    最后、我了解到、如果遵循所使用的工作条件、CTR 就相当于绝缘膜的寿命。
    此外、您公司的光耦仿真器(ISOM8110)当前正在接受标准认证、但何时完成认证并发布 TDDB 数据？

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    TI__Guru**** 2411110 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    地址：Kurata-San、

    是的、认证和 TDDB 数据将包含在数据表中(与 ISO672x 示例中显示的方式类似)。
    由于认证流程和测试由第三方认证机构完成、因此我们无法提供证书完成的预期时间表。  

    此致！
    安德鲁