[参考译文] UCC28070：MOS 损坏问题

admin

Guru**** 2386620 points

Other Parts Discussed in Thread: UCC28070

请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

器件型号：UCC28070

工具与软件：

你好、专家

我的客户使用 UCC28070进行新设计、虽然他们进行老化测试、但存在 MOS 损坏问题。故障率约为2/40。

功率约为650W。 VIN= 4.4. 图片是 MOS 当前的结果、在问题板上测试(替换新的 MOS)、虽然输出功率高于500W、我们可以捕获一些峰值电流、这可能是 MOS 损坏的根本原因。您对此问题有任何建议吗？此峰值电流是否正常？

粉波是通道1的 MOS 电流、蓝色波是通道2的 MOS 电流、黄色波是通道2的采样电流

0 admin 6 个月前

请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

Feeney、您好！

我需要有关此设计以及 MOSFET 发生故障时的测试条件的更多信息。

但是、您显示的峰值电流在我看来不足以导致故障、即使它们是不希望出现的。这是一个不同的问题。

在原理图文件中、我找到此浪涌保护电路：

由于这是一款半桥 PFC、因此该旁路从相线和中性线连接到输出电容器。

将浪涌限流电阻器 RT2放置在该路径中无效。换言之、它不起作用。在交流上电或压降恢复时、不会阻止峰值浪涌电流进入输出电容器。相反、浪涌电流将流过电感器。

如果 MOSFET 在其中一个浪涌期间开始开关且电感器饱和、则可能会导致过大电流损坏 MOSFET。
我认为、如果老化测试包括交流电源循环、这可能是导致故障的主要可能性。

我建议将 RT2与线路或中性网串联。

此致、
Ulrich

逻辑（参考译文帖）(Read Only)