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[参考译文] SN54AC14:施密特触发阈值随温度和寿命的变化而变化

Guru**** 2393725 points


请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/logic-group/logic/f/logic-forum/1069231/sn54ac14-schmitt-trigger-threshold-variation-with-temperature-and-life

部件号:SN54AC14

亲爱的各位,

我有一个问题已经在论坛上提出过, 这个问题只得到了私下的回答。

我们正在对涉及54AC14的空间应用进行电路分析,评估 VT +和 VT 阈值随温度和寿命的变化对性能的影响。

数据表不报告有关的信息。

请提供一些说明?

提前感谢您的支持。

此致

安东尼奥   

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    你好,安东尼奥,

    施密特触发器设备的输入阈值可能因多种因素而异,其中没有一种是线性的或易于估计的。 通常,对于类似的长通道 MOSFET,由于零件寿命下降而产生的变化很小(或根本不存在)。 不幸的是,我没有交流器件系列的任何测量数据来提供温度阈值变化,我们也没有任何数据来说明寿命对阈值的影响。

    我们只能保证设备的阈值在数据表最小/最大规格范围内。 如果应用程序需要更具体的阈值详细信息,我不建议使用此设备。