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[参考译文] SN74LVC1G32-EP：单一事件测试报告

admin
Guru**** 2644735 points

Other Parts Discussed in Thread: SN74LVC1G32-EP, SN54AC14-SP, SN54AC00-DIE, SN54AC00-SP, SN54AC02-SP, SN54AC02-DIE, SN54LVC646A-SP

请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/logic-group/logic/f/logic-forum/1083874/sn74lvc1g32-ep-single-event-test-report

部件号：SN74LVC1G32-EP
线程中讨论的其他部件： SN54AC14-SP， SN54AC00-die， SN54AC00-SP， SN54AC02-SP， SN54AC02-die， SN54LVC646A-SP

尊敬的 TI 团队：

是否有任何报告/文档包含 SN74LVC1G32-EP 的单个事件影响信息？

谢谢你。

  • 0
    TI__Guru**** 2644735 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    Tolgahan 您好，

    不，我担心我们没有该设备的辐射数据。

    逻辑产品组合中只有6台设备具有辐射信息(千个)：

    SN54AC14-SP

    SN54AC00-SP， SN54AC00-Die

    SN54AC02-SP， SN54AC02-Die

    SN54LVC646A-SP

    'AC00器件具有 TID 和 SEL，额定值为100 krad 和86 MeV-cm^2/mg，其它器件的额定值仅为 TID 50 krad。

    此致，

    塞巴斯蒂安