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[参考译文] SN74LVC2G125：慢速输入边缘速率对使用寿命的影响

admin
Guru**** 2382480 points
Other Parts Discussed in Thread: SN74LVC2G125
请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/logic-group/logic/f/logic-forum/577867/sn74lvc2g125-impact-of-slow-input-edge-rate-on-lifetime

部件号：SN74LVC2G125

您好，

如果在以下条件下使用SN74LV2G125，是否会影响使用寿命？
如果给定，可以提供多少量化数据？

VCC=2.5V
ΔT μ Δv I = 5usec/V
频率 10次/天

我们的客户了解，输出可能会在慢速输入边缘速率下振荡。
但是，他们无法在系统上避免这种情况。 因此，他们想知道设备寿命是否会受到影响以及实际价值。

此致，
柳枝

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    TI__Guru**** 2382480 points
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    常见问题 解答指出，这"可能导致…  设备损坏。"

    还有 一个设备 实际发生故障的报告。

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    TI__Guru**** 2382480 points
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    您好，Clemens San，

    感谢您的回复。

    请告诉我损坏机制。

    我认为破坏机制如下。

    如果输入位于阈值区域，则流经设备的通电流和ICC会增加。
    随着ICC的增加，设备会产生热量。
    当由于产生的热量超过设备的Tj时，它会被破坏。
    此外，流经电流会影响设备的使用寿命。

    我的理解是否正确？

    此致，
    柳枝旭坂
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    TI__Guru**** 2382480 points
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    慢速或浮动CMOS输入的影响(SCBA004)表示：

    如果 将0.8 V和2 V之间的电压长时间施加到输入 端，这种情况将变得非常严重，不应忽略，尤其是在位数较高和封装密度较高(SSOP，TSSOP)的情况下。 例如，如果18位收发器有36个I/O引脚在阈值浮动，则来自VCC的电流可高达150 mA至200 mA。 这大约是 设备消耗的1 W功率，这会导致 严重的过热问题。 设备持续过热会影响其可靠性。 此外，由于输入位于阈值区域，输出往往会振荡，导致内部电路长时间受损 。

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    TI__Guru**** 2382480 points
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    你好

    我检查了此应用说明。
    SN74LVC2G125是2位器件。 因此，我认为Vcc并不是那么高。

    即使输入边缘速率较慢，我认为没有损坏，除非它违反绝对最大额定Tj电压。
    这种理解是否错误？

    如果振动造成损坏，原因是什么？
    振荡是否超过了输出的绝对最大额定值？

    此致，
    柳枝
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    TI__Guru**** 2382480 points
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    我想振荡比外部信号可能发生的切换更快。 此外，不仅输入晶体管，而且器件的所有内部晶体管都在转换区域中保留更长的时间。
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    TI__Guru**** 2382480 points
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    当栅源电压太小时，MOSFET具有负温度系数。 因此，当输入电压在无效区域中的时间过长时，输入晶体管中会出现热点和热流失。
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    TI__Guru**** 2382480 points
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    您好，Clemens San，

    感谢您的回复。 我了解热的原因。


    如果设备在绝对最大额定值(电压，电流，温度)内使用，则不会损坏设备。
    我的理解是否正确？

    我 Δt，Δv在 Δt Ω/Δv Ω 的情况下，即使在绝对最大额定值范围内使用，如果设备可能受损，我们应将 Ω/Ω 添加到绝对最大额定值表中。

    此致，
    柳枝
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    TI__Guru**** 2382480 points
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    绝对最大额定值指定了设备可能会立即发生故障的限制。

    绝对最大额定值表脚注(1)表示：

    长时间暴露在绝对最大额定条件下可能会影响设备的可靠性。

    因此，如果超出建议的操作条件，设备也可能出现故障，但速度会更慢。