[参考译文] SN74LVC2G86：锁存测试条件

admin

Guru**** 1135610 points

请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

器件型号：SN74LVC2G86

您好！

我们的客户对 SN74LVC2G86DCUR 可靠性测试中的闩锁测试条件有疑问。

我们的资质认证摘要报告指出、我们的闩锁测试基于 JEDS78。

但他们不熟悉该标准。

根据 SCCA124应用手册、施加1.5 x Vmax 脉冲电压似乎是一个测试标准。

您能不能更详细地介绍一下我们为该器件做了哪些工作、比如施加电压和次数等？

此致、

Satoshi Obata

0 admin 2 年多前

请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

您好、Oba、

[引用 userid="6840" URL"~/support/logic-group/logic/f/logic-forum/111077/sn74lvc2g86-later-uel-test-condition"]您能不能更详细地说明我们对此器件执行的操作、如施加电压和次数等？

我们的闩锁测试结果不是公开信息。

正如您在应用手册中所述、施加1.5 x Vmax 脉冲电压是测试标准。 JEDEC 网站在以下位置提供了有关 IC 锁存测试的文档： https://www.jedec.org/document_search?search_api_views_fulltext=jesd78

此致、

Sebastian

逻辑（参考译文帖）(Read Only)