团队、
我的客户有以下问题:
我对德州仪器 SN74LVC1G97QDCKRQ1可配置逻辑门的传播延迟规格有疑问。 传播延迟指定为1.5ns 至6.3ns。 这种宽范围是由工艺变化造成的、还是由电压和温度极限值造成的? 我想知道、在所有器件都处于相同的温度和电源电压条件下时、多个器件之间传播延迟的最坏情况变化是什么。 换言之、如果所有器件同时从-40C 转换到+70C 的工作温度、传播延迟的跟踪是否会比器件间的规格更接近?
此致、
Aaron
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团队、
我的客户有以下问题:
我对德州仪器 SN74LVC1G97QDCKRQ1可配置逻辑门的传播延迟规格有疑问。 传播延迟指定为1.5ns 至6.3ns。 这种宽范围是由工艺变化造成的、还是由电压和温度极限值造成的? 我想知道、在所有器件都处于相同的温度和电源电压条件下时、多个器件之间传播延迟的最坏情况变化是什么。 换言之、如果所有器件同时从-40C 转换到+70C 的工作温度、传播延迟的跟踪是否会比器件间的规格更接近?
此致、
Aaron
您好、Aaron、
[引用 userid="35475" URL"~/support/logic/f/logic-forum/986072/sn74lvc1g97-q1-sn74lvc1g97qdckrq1-prop-delay "]是由于工艺变化而导致的这种宽范围、还是电压和温度极端值的函数?这实际上是因为上述两个原因。 我们对多个晶圆批次进行采样并随温度和电压变化、以在数据表中提供这些保证。
[引用 userid="35475" URL"~/support/logic/f/logic-forum/986072/sn74lvc1g97-q1-sn74lvc1g97qdckrq1-prop-delay "]换言之,如果所有器件同时从-40C 转换到+70C 的工作温度,则传播延迟跟踪的时间是否会比器件之间的规格更接近?如果我正确理解您的问题、是的、这些器件的 tpd 值会在温度相等的情况下增加和/或减少类似的增量。
谢谢!
乍得克罗斯比
您好、Dave、
我无法在不同温度下找到任何数据、我仍在等待我的一些团队回复我。
我能够找到器件间的差异@ VCC = 3.3V、TA = 25C:
在270个器件上、我们在 IN0至 Y 上测量了 TPLH (传播延迟、低电平到高电平转换)、平均值约为3.66ns、最小值为3.23ns、最大值为4.18ns
希望上述内容有所帮助、我将在收到我们的测试团队的回复后更新此主题。
谢谢!
乍得克罗斯比