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[参考译文] SN74LVC16T245:热冲击

Guru**** 2386620 points
Other Parts Discussed in Thread: SN74LVC16T245
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/logic-group/logic/f/logic-forum/1004511/sn74lvc16t245-thermal-shock

器件型号:SN74LVC16T245

您好!

你好。

我们的客户想知道、如果芯片温度为+70度并急剧冷却至-40度(热冲击)、SN74LVC16T245是否会损坏。

谢谢你。


此致、

Cedrick

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    您好、Cedrick、

    冷却速度有多快?  


    这些器件经过应力测试、符合 JEDEC 标准。 您可以通过访问 与您感兴趣的封装相关的质量、可靠性和封装信息标题下的链接、找到性能和资质认证摘要  

    我们对温度循环进行了测试。 在下面的这里、您将看到 DGGR 封装已经通过了500个周期。 大多数器件的封装应该相同、但我只是将其作为示例进行展示。

    该测试遵循  JESD22-A104标准。  
    在给定用于周期最小/最大值的-65/150C 温度范围的情况下、我看到这将属于测试条件 C、这意味着通常有2个周期/HR。 或~30分钟/周期。 这意味着它在一个30分钟间隔内达到峰值低电平和峰值高电平条件(-65C 至150C)。 超出您要求的温度范围、因此器件应该可以处理温度范围。 但是、他们的系统温度变化的速率是唯一的问题。

    以下是有关 JEDEC 标准的更多信息: http://web.cecs.pdx.edu/~cgshirl/Documents/22a104b%20Temperature%20Cycling.pdf

    希望这对您有所帮助、
    Rami

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    您好 Rami、

    感谢您的回答。

    冷却速度相对较快。 在+70分钟内、电路板进入已经为-40的处理室

    器件在这种情况下是否可以正常工作? 谢谢你。


    此致、

    Cedrick

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    您好、Cedrick、

    我们实际上无法保证测试条件之外的任何内容、因此我无法确定器件是否正常

    Rami