[参考译文] SN74LVC1G123：脉宽随温度变化(-40℃-+ 125℃)

米希亚基

在数据表中、对于 R 和 C 值、脉冲宽度在整个温度范围内列为 twOUT (脉冲持续时间)。  

您好 Michiaki-San、

首先、我想清楚的是、SN74LVC1G123不是一款精密器件。 如果需要极高的计时精度、我建议不要使用它。

[引用用户="Michiaki Tanii"]

1.在 slva720.pdf 中的图7和图8上。
  您能否告知脉冲持续时间因温度而变化的原因？

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脉冲持续时间取决于许多因素、包括但不限于：内部电容、比较器变化、基准变化、泄漏电流、内部延迟。 所有这些都与温度有一定的相关性。

[引用用户="Michiaki Tanii"]

  在图7中、℃℃看到脉冲持续时间在 VCC=5.5V 时的线性度发生了变化、但对于其他脉冲、脉冲持续时间在10 μ s 至30 μ s 之间变化。
  为什么会看到上述内容？

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温度变化取决于器件-测试的器件在某些温度下显示的变化相对线性、但这并不意味着所有器件将具有完全相同的变化。 提供的数据表明、温度变化很小、不能为精密应用提供精确的特性。

[引用用户="Michiaki Tanii"]

2.乘法器 K

  乘法器 K 是否由电容器大小和电源电压定义？

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是的、K 取决于电容器尺寸和电源电压以及温度。

[引用用户="Michiaki Tanii"]

  您能否提供乘法器 K 方程？

  客户认为 K 和电容器尺寸不成比例。

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K 是通过实验确定的-我没有一个等式来共享它。

K 和计时电容器的大小不是直接成比例的、但它们是相关的。 对于非常大的电容值、K 变得相对恒定。 对于小电容值、K 会发生显著变化。 这与内部电容(非线性)和外部电容之间的差异有关。

[引用用户="Michiaki Tanii"]

3.您能不能建议在温度范围内具有较小 TW 变化的器件？

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所有单稳态多谐振荡器都与温度相关、不适用于精密延迟。 我建议使用不同的计时方法来实现精密延迟、例如比较器+ RC 电路或晶体+微控制器。

[引用用户="Michiaki Tanii"]

4. 我测量了客户的数据。

   您能不能回顾一下数据是否与理论相符。

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我很乐意查看他们的数据。

[引用用户="Michiaki Tanii"]

1.如果切换图7和图8，我们将无法看到与图9和图8相比的10倍差异。
  相差约7.5x。
  请说明为什么 Cext 的变化与 TW 不对应？
  Ta =℃℃μ F 时 Tw = 14.4us、Cext = 100pF、Ta = 10 μ F 时 Tw = 107.5us、Cext = 1nF。
  Cext 是10倍差、但 TW 不是10倍差。

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还涉及 K 系数。 脉冲宽度的公式为：

TW = K * R * C

对于100pF 电容器、K 系数明显大于1000pF 电容器的 K 系数。  在本例中、对于100pF 电容器、K = 1.41 @ 5.5V、对于1000pF 电容器、K = 1.04。

[引用用户="Michiaki Tanii"]

2.您能在-40℃至125℃之间分享图7、8、9吗？

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否 应用报告中提供了所有获取的数据。

[引用用户="Michiaki Tanii"]

3.如果 Rext 固定为100k 欧姆、如果 Cext 较大、TW 的变化率就会更小。
  请告知原因。

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K 系数主要取决于器件的内部电容。 电容值越低、内部电容对外部电容充电率的影响就越大。 对于大型器件、影响最小、K 系数趋于平坦。 正如您在数据表图6中看到的、0.1uF 电容器和0.01uF 电容器之间的 K 系数差异非常小、但当下降到1000pF (0.001uF)电容器时、变化会更加剧烈。

[引用用户="Michiaki Tanii"]

4.如果 Cext 被固定并且 Rext 更大，TW 的变化率和上述情况一样小？

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如果 Cext 是固定的并且 Rext 增加、K 系数将保持相对恒定。 我"重复"说是因为仍然存在一些会影响器件运行的因素、例如泄漏。 我建议将计时电阻器保持在小于1 Mohm 的水平、以防止泄漏电流(Rext/Cext 引脚上高达0.25uA)导致运行发生显著变化。

[引用用户="Michiaki Tanii"]

5.客户正在考虑将 Rext 更改为470kohm，以通过更改 Cext 获得宽 TW。
  如果 Rext * Cext 是固定的、TW 的温度变化率是相同的？  
  例如，在以下情况下，TW 的温度变化率是相同的？
  - Rext = 100k Ω、Cext = 100pF
  - Rext = 470k Ω、Cext = 21.4pF

[/报价]

我希望整个温度范围内的性能与应用报告中显示的性能相似。 为了获得安全裕度、我建议设计具有+/-5%容差的设计。

我必须重复我之前的建议-这不是一个精密器件、我们无法保证从一个批次到另一批次的精确操作。 即使您的客户对该器件进行了广泛测试并证明其在应用中能够完美运行、明年的流程稍有变化也可能导致不同的性能。 我们只能保证数据表中的内容。

[引用用户="Michiaki Tanii"]

6.如果电源电压为5V±2%，TW 有多大变化？
  如果我们可以估算变化、请告知我们如何操作。