本应用手册 介绍了当 D 在 CLK 边沿的设置/保持计时窗口内改变状态时计算 MTBF 的过程、该过程会产生亚稳态条件。
从应用手册中可以看出、τ 和 t0数据已经被表征、计算将会更加简单...这种数据不必很精确、但是否可用于 LVC 逻辑系列? 具体而言、SN74LVC1G175DCKR 的这些值是否有数据?
这些数据不必是"官方"数据;只是一个指导原则、可以大致了解给定应用的 MTBF 是几分钟还是几百年、等等。
此致、
Darren
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本应用手册 介绍了当 D 在 CLK 边沿的设置/保持计时窗口内改变状态时计算 MTBF 的过程、该过程会产生亚稳态条件。
从应用手册中可以看出、τ 和 t0数据已经被表征、计算将会更加简单...这种数据不必很精确、但是否可用于 LVC 逻辑系列? 具体而言、SN74LVC1G175DCKR 的这些值是否有数据?
这些数据不必是"官方"数据;只是一个指导原则、可以大致了解给定应用的 MTBF 是几分钟还是几百年、等等。
此致、
Darren
您好 Darren、
器件的质量页面 上列出了物理故障 MTBF:https://www.ti.com/quality/docs/estimator.tsp
对于 SN74LVC1G175、MTBF 列为 2.14 x 10^9小时。
尊敬的 Emrys:
我很欣赏质量页面链接、但我已经访问了该页面...:(
不过、该鉴定不会列出测试期间的 CLK 和 D 信号频率、对吧?
这些值看起来非常重要、因为 D 型触发器在存在亚稳态时发生故障;也称为 D 输入在 CLK 输入信号边沿周围的建立/保持时间内发生转换。
从我所附的上述文献中、只要我知道测试期间的频率、我就应该能够根据质量页面中的 MTBF 时间计算 τ 和 t0。
MTBF 在很大程度上取决于这些时钟。
您能看到该信息是否可用吗? 如果是,您可以脱机将其发送给我(我在目录服务中)?
谢谢、
Darren