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[参考译文] SN74LVC1G175:需要一些常量来计算 MTBF

Guru**** 2387830 points
Other Parts Discussed in Thread: SN74LVC1G175
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/logic-group/logic/f/logic-forum/940982/sn74lvc1g175-need-some-constants-to-calculate-mtbf

器件型号:SN74LVC1G175

本应用手册 介绍了当 D 在 CLK 边沿的设置/保持计时窗口内改变状态时计算 MTBF 的过程、该过程会产生亚稳态条件。

从应用手册中可以看出、τ 和 t0数据已经被表征、计算将会更加简单...这种数据不必很精确、但是否可用于 LVC 逻辑系列? 具体而言、SN74LVC1G175DCKR 的这些值是否有数据?  

这些数据不必是"官方"数据;只是一个指导原则、可以大致了解给定应用的 MTBF 是几分钟还是几百年、等等。

此致、
Darren

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    您好 Darren、

    器件的质量页面 上列出了物理故障 MTBF:https://www.ti.com/quality/docs/estimator.tsp

    对于 SN74LVC1G175、MTBF 列为 2.14 x 10^9小时。

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    尊敬的 Emrys:

    我很欣赏质量页面链接、但我已经访问了该页面...:(
    不过、该鉴定不会列出测试期间的 CLK 和 D 信号频率、对吧?

    这些值看起来非常重要、因为 D 型触发器在存在亚稳态时发生故障;也称为 D 输入在 CLK 输入信号边沿周围的建立/保持时间内发生转换。

    从我所附的上述文献中、只要我知道测试期间的频率、我就应该能够根据质量页面中的 MTBF 时间计算 τ 和 t0。

    MTBF 在很大程度上取决于这些时钟。

    您能看到该信息是否可用吗? 如果是,您可以脱机将其发送给我(我在目录服务中)?

    谢谢、

    Darren

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    您好 Darren、

    回顾我们之前的讨论-我认为您是指误码类型的故障、而不是指物理设备故障。

    我的产品的 MTBF 与器件的物理故障有关,即内部迹线磨损,或热载流子注入产生的阈值偏移过大。

    它与数字操作无关、并且可能存在错误。

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    尊敬的 Emrys:

    我看到...是的、我一直在尝试讨论位错误故障、这需要器件特性数据才能计算。
    这是否意味着我们没有任何可用于计算该器件的 τ 和 t0的特性数据?

    从应用手册中可以看到、作者似乎已经建议存在这种特征...至少对于某些器件而言是如此;因为他提供了一种简单的测试方法。  

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    没错--这个器件是一个相对简单的模拟电路。 如果您提供了正确的设置和保持时间、则输出将是正确的。 否则、我们无法保证任何情况(这是应用手册讨论的主要区域-转移状态)。

    换句话说、如果您违反数据表规格、我们不保证功能正常。