This thread has been locked.

If you have a related question, please click the "Ask a related question" button in the top right corner. The newly created question will be automatically linked to this question.

[参考译文] SN74AUP1G74:D-FF 不响应 D 引脚的变化

Guru**** 2383470 points
Other Parts Discussed in Thread: SN74AUP1G74
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/logic-group/logic/f/logic-forum/627503/sn74aup1g74-d-ff-does-not-respond-to-changes-in-d-pin

器件型号:SN74AUP1G74

您好!

我使用的 D-FF 在应用中具有指定的器件型号。

为了检查器件是否正常工作(缺少 EVB)、我将器件焊接在我设计的 PCB 上、并开始使用最先进的93K 测试头对其进行测试。

我首先验证表1。 (函数表)逐行显示在 DS (第15页)中、无法使其正常工作。

我从 PRE~低电平和 CLR~高电平开始、因此我得到了 Q=H (正如预期的那样)

然后、我施加了 PRE~ High-Z 和 CLR~ Low 并得到 Q=L (如预期)。

然后、我施加了 PRE~ High、CLR~ High 和1MHz 50%直流 时钟和开始改变 D (H - L - H - L)- Q 未按预期改变。

有些器件既不响应 D 高电平和 D 低电平、也不响应 D 低电平。

我想知道更改 D 引脚是否有特定的顺序、或者我是否必须提前执行某项操作。

谢谢你。

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。
    您好、Eli、
    您能否提供测试设置的原理图和意外行为的示波器截图?
  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    您好!

    很遗憾、我无法将照片/屏幕截图从公司中导出。

    测试期间、该组件被焊接到 PCB 上、使我们可以访问每个引脚、PCB 被插入到连接到 Advantest 93K 测试头的插座上。

    我首先进行连续性测试、以确保所有引脚均已正确连接。

    那么、我运行的模式如表1中所述。 在 DS (第15页)中。

    我将时钟设置为1MHz、直流为50%、上升沿位于中间(0->1)。

    1。I 从预设开始(PRE~=低电平、CLR~=高电平、CLK = Z、D = Z)-输出 Q 为高电平、Q~为低电平、与预期的值相同。 (五)

    ~我继续清除(PRE~= Z、CLR~=低电平、CLK = Z、D = Z)-输出 Q 为低电平、Q 为高电平、这符合预期。 (五)

    3.现在我想使用 D、我应用 PRE~= H、CLR~= H、CLK =时钟、D = H -输出 Q 从之前开始保持低电平、Q~保持高电平。 (x)

    问题是我无法通过更改 D 来控制器件、器件仅使用 CLR~和 PRE~更改输出。

    我的问题是我的流程中是否有任何错误? 在开始使用 D 之前、我是否必须更改某些内容?

    谢谢你。

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    CMOS 输入引脚必须始终具有有效的电压电平;您不得将其设为高阻态

    您能否只绘制一个时序图?

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    您好!

    我添加了时序图图片。

    谢谢你。

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    谢谢。

    输入信号的特性是什么? ∆t/∆v (数据表第6.3节)是否足够快?

    有些器件既不响应 D 高电平和 D 低电平、也不响应 D 低电平。

    这听起来像是硬件缺陷。

    Hi-Z 信号损坏输入的可能性很小、但也有可能损坏 ESD。

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。
    您好!
    根据 DS、时序特性良好。
    新器件中仍然存在缺陷、因此我不认为 HI-Z/ESD 损坏。
  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    您好、Eli、

    我可以告诉大家、离开我们的每个器件都经过功能测试、我们有很多客户在使用 SN74AUP1G74时没有遇到任何问题、因此我怀疑部件的设计有问题。  我并不是说这是不可能的、但 IC 的问题不太可能。

    在我看来、您的测试设置中可能会有过大的电容、这会导致输入比您预期的慢-在1MHz 时、即使是几 pF 也会导致大问题。

    您能否在 SN74AUP1G74的输入和输出端提供波形的示波器截图? 我们需要准确了解引脚上发生的情况、以确定问题是什么。