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[参考译文] SN74AVC16T245:无效输入逻辑电平导致的输出

Guru**** 2387830 points
Other Parts Discussed in Thread: SN74AVC16T245
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/logic-group/logic/f/logic-forum/1253211/sn74avc16t245-the-output-caused-by-invalid-input-logic-level

器件型号:SN74AVC16T245

大家好、

我的客户询问为什么当 Vin 小于 VIH 时 Vout 变为高电平、测试波形如下所示(2B1表示 Vin 从1.34V~1.96V 变化、2A1表示 Vout)。

我认为、随着速度的提高、逻辑器件对输入越来越敏感。 较慢的输入边沿速率或无效的逻辑电平、以及输出切换时在电源轨上产生的噪声、可能会导致过多的输出错误或振荡。 对于 SN74AVC16T245、0.8V ~ 2V 之间的输入电平不是有效的逻辑电平、尤其是在1.34 ~1.2V 之间变化的信号。 因此、无效输入会导致测试波形中出现输出振荡。

我的看法是否正确? 如果没有、您能告诉我如何向客户解释这一点吗?

非常感谢。

此致、

高锡尔维亚