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尊敬的专家:
问题1:引脚 OUT2的最大电压是12.7V 或50.7V? 假设我的应用中的 VM 为12V。 在表6.1中、连续相位节点引脚电压(OUT1、OUT2)为 VM+0.7V。
问题1:现在我想通过一项 EE 测试:当 VM 不存在时、引脚 OUT2将短接至32V 达60s。 DRV8872Q1是否会损坏?
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尊敬的专家:
问题1:引脚 OUT2的最大电压是12.7V 或50.7V? 假设我的应用中的 VM 为12V。 在表6.1中、连续相位节点引脚电压(OUT1、OUT2)为 VM+0.7V。
问题1:现在我想通过一项 EE 测试:当 VM 不存在时、引脚 OUT2将短接至32V 达60s。 DRV8872Q1是否会损坏?
你好、Rick
是否会在以下三种情况下触发故障?
案例1:OUT2连接至32V、电流流经体二极管流向 VM。
CASE2:OUT2连接至32V、电流流经 HS-FET 通道流向 VM。
案例3:OUT2连接至32V、电流流经 LS-FET 通道流向 VM。
尊敬的 Lin:
浪涌电流可能非常高、具体取决于32V 大容量电容器。
创建的等效电路是通过二极管连接至 VM 电容器的32V 电容器。
要回答您的故障问题:
是否会在以下三种情况下触发故障?
案例1:OUT2连接至32V、电流流经体二极管流向 VM。 -- 不是,从源极到漏极跟随时,不会检测到电流
CASE2:OUT2连接至32V、电流流经 HS-FET 通道流向 VM。 -- 不是,从源极到漏极跟随时,不会检测到电流
案例3:OUT2连接至32V、电流流经 LS-FET 通道流向 VM。 是 的,但在此之前,电流已经流经高侧 FET 的体二极管。
尊敬的 Lin:
Q1:一旦流经漏源的电流超过峰值、无论 HS 或 LS 如何、都将触发 OCP 故障。 我是对的吗? 您能否详细介绍 OCP 检测方法、或向我分享一份文档?
你是对的。 漏源电流由内部电路监控。 如果电流在 OCP 抗尖峰脉冲时间(~2us)内超过 OCP 值(3.7至6.6A)、FET 将被禁用~3ms。
Q2:对于案例3、您为什么会说"但在此之前、电流已流经高侧 FET 的体二极管"? 我认为体二极管比 DS 通道具有更大的电阻?
这取决于何时启用输出。
如果在启用输出之前发生对32V 的短路、则电流将流经高侧 FET 的体二极管。
如果在输出为高电平时发生短路、电流将流经高侧 FET。
如果在输出为低电平时发生短路、电流将流经低侧 FET 并导致过流故障。
你好、Rick
使用 DRV8872EVM 测试电机的反电动势。 请查找附件、谢谢!
你好、Rick
您推荐的文章已经过仔细研究。 图中说明了两个关键点:
首先、添加三个电阻器、将 ADC 电压限制在3.14V。 (当 OUT1和 OUT2的电压分别为-0.7V 和11.7V 时、计算得出此3.14V。 即电流流过体二极管。)
其次、应在驱动器进入高阻态后的1ms 内测试反电动势
同样、当电流流经体二极管且驱动器立即进入高阻态时、会测试我的-1V 和 VM+1。 我认为它们应该是 EMF。 请改正我的问题、谢谢。
BTW、当在 VM 路径中插入串联二极管时、只有该串联二极管会添加到宝贵的电源和 DRV8872EVM 之间。 我认为不应更改总电容。 我无法理解这个结果。 再次感谢您的热情帮助。
尊敬的 Lin:
其次、应在驱动器进入高阻态后的1ms 内测试反电动势
应在电流耗散后测试反电动势。 这可能需要几微秒或几毫秒、具体取决于电机。
同样、当电流流经体二极管且驱动器立即进入高阻态时、会测试我的-1V 和 VM+1。 我认为它们应该是 EMF。 请改正我的问题、谢谢。
1V 和 VM + 1V 是流经体二极管的电流所需的电感尖峰。 在电感器中也可以看到相同的尖峰。
BTW、当在 VM 路径中插入串联二极管时、只有该串联二极管会添加到宝贵的电源和 DRV8872EVM 之间。 我认为不应更改总电容。 我无法理解这个结果。 再次感谢您的热情帮助。
如果您尚未更改 EVM 上的电容值、则添加串联二极管不应影响运行。