[参考译文] DRV2605：诊断结果不一致

尊敬的 Takahashi-San：  

抱歉、我不应该假设使用了电机。  我与团队讨论了这个问题、我们不认为此器件上的诊断例程是在检查反电动势。 如数据表中所述、它会检查开路负载或短路负载。

遗憾的是、该 IC 的设计人员几年前就已经离开团队。 请允许我查看此 IC 的旧内部文档、并查看是否有有关诊断例程通过失败限制的详细信息。 我明天会给你一个回应。  

此致、
Arthur

尊敬的 Arthur：

感谢您的答复和查看我的问题。 感谢您努力澄清电机驱动器的诊断例程。  

再次感谢您的帮助。

此致、高桥

尊敬的 Takahashi-San：  

很抱歉我上一封邮件迟到了。 我已在内部检查了可用信息、但未发现任何有关诊断例行程序的信息。 我将使用可变电阻负载在 EVM 上进行测试、以查找通过失败标准。  

 此致、

Arthur

尊敬的 Arthur：

感谢您的答复以及花时间测试具有可变电阻负载的 EVM。 感谢您努力查找诊断例程的通过失败标准。

除了我之前的问题外、我还有几个关于 ERM 电机使用的问题：

问题 1：ERM 电机使用自动校准是否有效？ 此外、是否保存自动校准的结果？ 如果它们得到了保存、我想知道如何重置它们。

问题 2：您能否提供有关使用 ERM 电机时所需设置的信息？

提前感谢您的帮助。

此致、

高桥

尊敬的 Takahashi-San：  

我使用电阻负载进行了测试、发现当仅使用电阻负载时、诊断例程始终会失败。 这表示诊断例程正在从 ERM 搜索有效的 BEMF。  

您还提到、FB_STS 位将变为1、这表示无法从 ERM 检测到 BEMF。 如果电机旋转方向较弱、则可能会发生这种情况。 如果我降低过驱电压太高、我能够导致诊断失败。 您使用的额定电压设置是多少？ 如果您提高额定电压、诊断例程是否能够可靠地通过？  

进行解答

1) 1)是的、需要为 ERM 电机执行自动校准以实现最佳制动性能。 数据表的第7.5.6节介绍了校准例程的输入和输出。 校准后、所有值都保存在器件寄存器中。 它们存储在寄存器0x16-0x1C 中。 要对其进行复位、可使用默认值对其进行覆盖、或者可通过 POR 对器件进行复位。

2) 2)要驱动 ERM 电机、所有必要的寄存器设置都是自动校准例程的"输入"。 但是、其中的大多数可保留为默认值。 需要更改的是"N_ERM_LRA"、"RATED_VOLTAGE"和"OD_CLAM"。  

此致、

Arthur

Arthur、您好！

感谢您更新我的先前问题的答案。

感谢您使用电阻负载进行测试并调查诊断例行程序。 我将按照您的建议检查过驱电压和额定电压设置。  我还有两个问题：

1) 1)如果我理解正确、自动校准结果将在电源关闭时重置。 是这样吗？ 如果是这样、是否可以防止自动校准结果即使在电源关闭时也被重置？

2) 2) ERM 电机是否必须进行自动校准？ 能否使用不带自动校准功能的 ERM 电机？

再次感谢您的帮助。

此致、
高桥义树

Arthur、您好！
感谢您更新我的先前问题的答案。

我检查了您提到的 OD_CLAMP 和 RATED_VOLTAGE 设置。
我的环境是一个开环。 数据表指出忽略了 RATED_VOLTAGE 设置、因此我明白应该更改 OD_CLAMP。
您能告诉我如何计算应在 OD_CLAMP 寄存器中设置的值吗？

此致、
高桥义树

你好、高桥山

下面突出显示了在开环模式下为 ERM 计算 OD_CLAMP 值的公式。

不过、如果您有触觉控制台 GUI、可以用作计算器、以便以更轻松的方式执行转换。

此致、

Arthur  

尊敬的 Arthur：

感谢您提供的信息。 感谢您的及时响应。

我知道 Haptic Control Console GUI 可用于将电压转换为十六进制值。 不过、是否可以在没有评估板的情况下使用 GUI？

此外、我想确认公式中参考的电压 V (ERM-OL_AV)和 Vdc。

关于随附的图像、您能否告诉我如何计算10^-3和 OD_CLAMP？

此外、我知道诊断功能会检查反电动势。 是否有任何方法可以在不实际使电机振动的情况下进行诊断？ 此外、是否有办法在不使用诊断功能的情况下检测断线？

提前感谢您的帮助。

此致、

高桥义树

尊敬的 Takahashi-San：  

是的、在未连接 EVM 的情况下、HCC GUI 可用于计算电压值

V (ERM-OL_AV)是 ERM 模式开环的平均稳态电压。 此值( V (ERM-OL_AV))将编程到 OD_CLAMP 中。

21.96x10^-3是科学符号。 这表示"0.02196"

当 OD_CLAMP = 0x89时(如随附的图像所示)

十进制(0x89)= 137

137*0.02196 = 3.00852 V

自动校准例程和诊断例程是确定传动器运行状况的唯一方法。  

此致、
Arthur

尊敬的 Arthur：

感谢您的答复。
您提到您在诊断中查看反电动势、当我查看数据表时、我发现了一个名为 A_CAL_BEMF 的寄存器。
是否可以通过更改该寄存器来提高诊断的精度？

此致、
高桥义树

尊敬的 Takahashi-San：

该寄存器说明以额定电压驱动致动器时将产生的 BEMF 量、并且作为自动校准的输出。 这不会影响诊断结果。  BEMF 上的通过失败限制可能未被检测到、并且 ADC 饱和。

您是否能够提高驱动电压并测试诊断是否更可靠？ 结果如何？

此致、
Arthur

尊敬的  Arthur：

感谢您的答复。

我试图更改 RATED_VOLTAGE 寄存器、但数据表显示其未被开环引用。
因此、我将过驱电压(OD_CLAMP)更改为0xFF 以进行诊断。
但结果并不好。 诊断结果更差。

此致、
高桥义树

尊敬的 Takahashi-San：  

了解到增加 OD_CLAMP 会使问题更糟、减小 OD_CLAMP 会改善问题吗？

您能否分享寄存器映射和器件原理图的转储以便我查看？  

也许也是 ERM 的图像？

此致、
Arthur

尊敬的  Arthur：

感谢您的答复。

比较是在 OD_CLAMP 设置为0xFF 和0x3F (低于该值时振荡变得更弱)的情况下进行的。 这些分别是在执行100次诊断运行后断开导线的次数。
抱歉、对于0xFF、情况并没有变得更糟。
另外、请解释为什么要减少 OD_CLAMP 以确认这一点。
- 0xFF : 3/100
- 0x3F : 2/100

更改了寄存器。 (除以下寄存器外、未进行任何更改。)
-过驱钳位电压寄存器: 0xB6.
- CONTROL3寄存器: 0xA0
模式为 RTP 模式。

此外、还附上了该器件的原理图和图像。
您能评论一下吗？

尊敬的 Takahashi-San：  

您能否确认 ERM 胶粘到质量上？ 我们通常使用100g 质量、  

我可以建议可能的解决方法、如果在生产期间在每个器件上运行诊断3次、并且如果至少其中1次是通过结果、则器件可视为"良好"。 由于失败结果并不常见、这将大大减少"漏报"的数量

此致、
Arthur  

尊敬的  Arthur：

感谢您的答复。

应确认生产过程中的诊断。  您能否提前提供解决方法？

ERM 是否总是必须胶粘？ 为什么会这样呢？

当前设备有一个用于防止断开振动部件的游隙，并且没有粘结。

您设置的寄存器和电路的值是否正确？ 是否存在任何短缺？

在我的环境中、当执行自动校准来诊断问题时、有些情况下未检测到误报。 我认为这表明诊断受到自动校准的影响。
是否有任何会影响诊断的寄存器？

尊敬的 Takahashi-San：  

我建议的解决方法是：

-由于故障是3/100,不可能两个连续的诊断例程都返回一个失败的结果。 在生产线上、每个系统可以运行两次诊断例程、只有在两个诊断测试都返回失败结果时才会将其视为失败。  

ERM 不需要粘附、但我只想确保它被牢牢固定、因为如果传动器松动、它可能会影响结果。

对于 ERM 开环、您的寄存器设置是正确的、因为不使用闭环算法、所以没有其他寄存器要调整。  

我可以认为只有两个寄存器可能影响诊断结果、我认为 AUTO_CAL_TIME[1：0]将影响诊断例程的持续时间(除了自动校准)。 较长持续时间运行诊断可能使其收敛于更准确的结果。  

我无法提供有关诊断例程功能的确切详细信息、因为设计人员几年前就已经离开团队、 但是、如果诊断例程由于 BEMF 读数不良而失败、那么 A_CAL_BEMF[7：0]可能会影响结果、则该寄存器存储以额定电压驱动 ERM 时生成的 BEMF 电平。 调整该寄存器可能会影响故障率

此致、

Arthur

尊敬的  Arthur：

感谢您的答复。

我将在内部讨论权变措施。

多大程度的 ERM 松动会影响结果？

感谢您告诉我影响诊断的寄存器。
我曾尝试向该寄存器写入一个值、但似乎没有写入。 在数据表中、它列为"R/W"。
我该如何写它呢？

此致、
高桥义树

尊敬的 Takahashi-San：  

只要 ERM 不能独立于安装表面移动、那么它就不会导致问题、我们经常会在执行器松动扫描床上时看到自动校准和诊断问题。

我将检查是否能够读取这些寄存器、然后再返回给您。 应该可以直接写入。  

我将通过大幅更改  A_CAL_BEMF[7：0]来检查是否会导致诊断失败。

此致、
Arthur

尊敬的  Arthur：

感谢您的答复。

感谢您确认 A_CAL_BEMF。

此设备诊断功能的正常可信度是多少？
我知道设计师不在团队中、您是否掌握了这些信息？

此致、
Arthur

尊敬的 Takahashi-San：  

我们还没有看到诊断有时会出现的这种问题。  

当诊断报告出现故障的值时、我们通常会相信它是正确的。

此致、
Arthur

尊敬的  Arthur：
感谢您的答复。

感谢您了解诊断可信度。

关于诊断结果、我们已确认、当 DIAG_RESULT 为1时、FB_STS 也始终为1。
FB_STS 在数据表中表示"当 ERM 反电动势为零的时间超过~10ms 时、在 ERM 模式下"。 何时测量该反电动势？ 是否进行了多次测量？

此外、是否存在即使器件在诊断过程中振动也不会产生反 EMF 的情况？ 会出现什么情况？

尊敬的 Takahashi-San：  

DRIVE_TIME[4：0]寄存器字段将设置 ERM 模式下的 BEMF 检测的采样率。 数据表中的解释或许增加该值会有所帮助？

电机产生的 BEMF 是电机本身的电气属性、理论上、电机的任何运动都应产生反电动势。  

此致、
Arthur

尊敬的 Takahashi-San：  

我将会由于不活动而关闭该主题帖。 如果需要进一步支持、请发布新主题。

此致、
Arthur