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器件型号：MSP430F5438A 主题中讨论的其他器件：MSP430F5438
最近，我们对一个具有 MSP430F5438的设计进行了辐射测试。 质子束位于器件上、我们正在快速为器件循环供电(大约每20-30秒循环一次)。 在测试中的某个点、MSP430未启动。 在后分析中、闪存似乎已损坏。 我们在经过几千个功率周期后进行的另一项测试中经历了这种类型的事件、没有辐射。 我想知道在 MSP430上电期间是否有任何条件可以使闪存损坏？
