工具/软件:Code Composer Studio
使用 ESI 作为非磁传感器(L:470uH、C:220pF)时,某些机器在55高温下会失去计数。 一段时间后、计数通常也会出错。 是否需要 LC、例如电感值的一致性
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使用 ESI 作为非磁传感器(L:470uH、C:220pF)时,某些机器在55高温下会失去计数。 一段时间后、计数通常也会出错。 是否需要 LC、例如电感值的一致性
您好!
我需要咨询 ESI 团队、然后再与您联系。 最近的假期可能会延迟他们的回应、因此我们感谢您的耐心。
同时、请检查 ESI2勘误表是否未导致此行为。 此外、当您提到电感值的一致性时、同一系统中是否有多个传感器、或者每个系统中的电感器是否会发生变化? 预期的变化是什么?
此外 、《MSP430FR58xx、MSP430FR59xx 和 MSP430FR6xx 系列用户指南》中的第37.2.1.7节"可选比较器偏移消除 "提及以下内容:
ESI 的比较器具有随温度和电源电压漂移的失调电压。 对于某些应用、指定的偏移误差和偏移漂移可能是可以接受的-请参阅器件专用数据表。 如果偏移误差不可接受、在 TSM 序列内添加一个比较器自动置零周期可以大大减少偏移误差。 在插入 AutoZero TSM 周期后、比较器以调零点偏移有效运行。
我怀疑这与温度升高时的计数损耗有关。
此致、
James
大家好、 我叫 Johann、在德国工作... 第一天回到办公室,很抱歉我推迟 到这一轮
我 不希望 MSP430器件的模拟行为在 您所描述的温度范围内发生大的变化。。。 但是 、如果 您选择了不幸运的组件、我预计储罐电路的 L 和 C 会随温度变化。
根据 ESI 概念、您将电感器用作磁场(交流场)失真的传感器。 这是通过使用电感器的寄生特性来实现的。 现代且良好的电感器应显示很少的外部磁场、以保持与其他元件的干扰较低。 那么、它取决于电感器是设计为 SMPS 的存储电感器还是设计为滤波电感器以降低交流噪声等
L 的一些提示:避免铁芯(全金属芯)、避免金属粉芯、避免高磁导率芯...
C:避免使用基于 PZT 的电介质的一些提示
您能否检查 L-C 电路是否会随温度变化其谐振频率;只将 L 和 C 焊接在一起;没有附加任何其他内容。 这可以通过吸收频率计(dip 表)来实现。 这些仪表是数十年来一直存在的简单仪表。 在实验室里,我们有一些是从上个千年的70年代开始的。 有时会使用它们=>这种情况...
或者、您可以在冷水箱和热水箱电路上拍摄示波器快照。
ESI 会在给定的时间检查电压电平。 如果达到或未达到特定水平、则表示磁场会被金属块失真或失真。 这基本上就是物理机制的工作方式。
如果您可以撕裂其中一个负载点、请告诉我、如果有的话、可以拔很多绕组;我的负载点有160个... 这个数字使我能够计算 Al 值,这再次能够估计材料的温度行为……
祝你度过美好的一天
Johann
您好!
我不能推荐特定品牌、但我可以解释如何选择合适的线圈。
线圈的电感受匝数和磁芯的 Al 值的影响。 公式为:L=Al*n^2。
N 是匝数;AL 通常以 nHy 给出。 它由磁芯的 for 和材料属性"u_r"决定。
磁芯的"u_r"-值会影响线圈如何形成磁场;它还会影响电感、如上所示。
正如您在上面看到的那样、"u_r"把场场与核心联系起来。 但我们不希望这样做、因为我们需要一个外部磁场来感测金属的存在。
因此、具有低"AL"的线圈越好。
如果您的线圈转动160圈、则转至470uHy =>"AL"=470u/160^2=18.35nHy。
仅具有50匝的线圈的"AL"值为188nHy =>在这里、第一个线圈更好、因为可以预期具有更大的外部磁场。
另一种测试方法是模拟简单测量的几何形状。 此处的" DIP 表"非常有用。 您可以看到"骤降"对 tans 电路距离的影响。
您好!
我不能推荐特定品牌、但我可以解释如何选择合适的线圈。
线圈的电感受匝数和磁芯的 Al 值的影响。 公式为:L=Al*n^2。
N 是匝数;AL 通常以 nHy 给出。 它由磁芯的 for 和材料属性"u_r"决定。
磁芯的"u_r"-值会影响线圈如何形成磁场;它还会影响电感、如上所示。
正如您在上面看到的那样、"u_r"把场场与核心联系起来。 但我们不希望这样做、因为我们需要一个外部磁场来感测金属的存在。
因此、具有低"AL"的线圈越好。
如果您的线圈转动160圈、则转至470uHy =>"AL"=470u/160^2=18.35nHy。
仅具有50匝的线圈的"AL"值为188nHy =>在这里、第一个线圈更好、因为可以预期具有更大的外部磁场。
另一种测试方法是模拟简单测量的几何形状。 此处的" DIP 表"非常有用。 您可以看到"骤降"对 tans 电路距离的影响。
您好、再说一次、
图1-6表示模拟行为模型。
这意味着:
-开关和二极管的内部等效电阻如深灰色框中所示
- ESICOM 的源电阻为300欧姆
-在油箱电路上观察到的衰减行为就好像连接了750k 的||电阻器一样...
(实际上、该电阻器不存在;损耗来自寄生引脚电容、在这种简化方法中未对其建模)
然而、为了实现更高的可靠性、还可以添加一个从 ESICOM 到470nF 电容器的1k 电阻器。
这就是为什么。
只要470nF 电容器从其接地端子到 ESICOM 端子之间的 PCB 布线较短、一切正常。 如果 Lsense 由于某种原因(放置不当)而耦合到470nF 电容器的引线迹线生成的环路中、则 会导致 ESICOM 的稳定时间更长。 这可以通过所示的1k 电阻器来减少。 ESICOM 输出是直流控制的。
无需担心输出在使用该电阻器时是稳定的。 我们甚至尝试 将470nF 电容的接地引线作为 Lsense 的5个次级绕组的接地引线=>全部稳定。
运行这三个函数时,传感器的电感应处于何种状态?例如:1.2。 传感器放置在水表的180度金属指针上,指针不旋转;3. 传感器放置在水表的180度金属指针上、指针转动或其他状态。
TMS_AUTO_CAal ();
find_noise_level ();
SET_DAC ();
我在 SLAA639中看到了这一点、但我不太明白。
TMS_AUTO_CAal ();它不会说它在哪个状态下运行。
find_noise_level ();指针不移动时电感的状态是什么?1. 其中一个电感器位于金属上方、另外两个电感器位于非金属上方;2. 其中一个位于非金属上方、另两个位于金属上方;其中一个位于金属上方、另两个位于金属与非金属之间的临界点。
此外、swp140528.pdf 的1.2.3.2中规定芯片的使用寿命为10。 是否有任何方法可以将其延长到15年。