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[参考译文] MSP430FR5969-SP:对单粒子翻转敏感的寄存器?

Guru**** 2540720 points
Other Parts Discussed in Thread: MSP430FR5969-SP

请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/msp-low-power-microcontrollers-group/msp430/f/msp-low-power-microcontroller-forum/947870/msp430fr5969-sp-registers-sensitive-to-single-event-upsets

器件型号:MSP430FR5969-SP

尊敬的 TI 团队:

我们在 某些应用中使用 MSP430FR5969-SP。

我对内部寄存器有疑问。 内部寄存器(例如、用于对 GPIO、ADC 等进行编程的寄存器)是否对单粒子翻转敏感? 或者它们是否抗 SEU 干扰?

请参阅报告《MSP430FR5969-SP 的单粒子效应测试报告》(顺便说一下、似乎不再提供该报告)不提供有关内部寄存器 SEU 灵敏度的任何详细信息。 如果内部寄存器对 SEU 敏感、则可以在我们的软件中实施一些缓解技术(例如连续读取寄存器并校正任何错误)。

谢谢、
Thomas

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    尊敬的 Thomas:

    我也找不到有关寄存器灵敏度的任何其他信息。 我建议查看数据表中的第6.1节"降低辐射影响的软件最佳实践"。 描述单个事件影响的最常见方法(请参阅)是使用系统方法。  然后对实际系统行为的影响进行特性描述、而不是对各种硬件块使用特定的横截面。 我假设这也包括寄存器。

    我发现了一个出版物、名为 《微控制器中的软件恢复能力和软件缓解的有效性 》、该出版物描述了非辐射加固型 MCU 中的寄存器如何对 SEU 敏感、这可能会导致外设运行不稳定。 下面是一个有趣的片段:

    由于这些外设控制计时器、看门狗、数据输入和数据输出、因此这些外设中的故障可能会造成破坏。 此外、与许多其他类型的 SEFI 一样、这些故障无法自我检测。 因此、它可以通过外部监控来确定外设是否发生故障。 我们发现、通过定期重新初始化外设来对外设进行盲清理可以最大限度地减少中断所需的时间并自动重置外设。

    借助 MSP430FR5969-SP、我希望获得更好的性能、因为它是一款耐辐射器件。 除了一些额外的代码和带宽消耗之外、我没有看到任何关于实施缓解技术的负面影响。

    此致、

    James

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    尊敬的 James:

    感谢您的回答。

     根据您所介绍的内容、MSP430FR5969-SP 的寄存器可能对 SEU 敏感。 因此,实施缓解技术似乎是必要的。

    此致、
    Thomas