您好!
这是一个20年前设计的器件问题。
简介:
- MSP430F4250与 M24C64 (EEPROM 至 I2C)相连、用于记录每6秒2字节的日期。 15年来,这一工作没有任何问题。
- 最近 、M24C64进行了一些工艺技术更改、将其称为 CMOSF8H+(旧处理技术为 CMOSF8H)。
- 因此旧的 EEPROM 是 M24C64-(批处理_否) K、它运行良好、而新的 EEPROM M24C64-(批处理_否) T 导致了问题。
问题定义:
- 使用新的 EEPROM、当我读取存储的样本(字节)时、当它小于250个样本(500字节)时、我将读取所有样本(字节)的垃圾/错误值。
- 一旦存储的样本大于250个样本(500字节)、并且当我读取它们时、我能够以正确的值读取所有样本(字节)。
观察结果:
- 我已经查看了代码和 Ckt,找不到任何错误,因为它在过去15年里与旧 的 M24C64-(Batch _No)K 一起工作正常 即使使用 M24C64-(Batch _No) T、如果存储的样本超过250 (500字节)、我也没有问题。
问题:
- 当存储的样本小于250 (500字节)时、为什么我读取样本的垃圾/错误值
- 在250个样本(500字节)后、假设存储的样本超过251 (501字节)、我可以正确读取所有251个样本。
有人可以帮助我缩小这个问题的范围吗?