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[参考译文] MSP430FE427A:ESP430CE1A 数据表理解问题。

Guru**** 2382480 points
Other Parts Discussed in Thread: MSP430FE427A
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/msp-low-power-microcontrollers-group/msp430/f/msp-low-power-microcontroller-forum/604915/msp430fe427a-esp430ce1a-datasheet-understanding-issue

器件型号:MSP430FE427A

大家好、

我正在使用 MSP430FE427a、它有一个子处理器 ESP430CE1A。 此 ESP430的数据表介绍了第11页上的采样率。 我很难理解整段(作为下图附在后)。 我不理解这样的说法:"完整 ESP430计算序列的样本数为4096。" 和"采样周期分为256个单元,以获取 ESP430的时基单元。 "。  

我真的很希望有人以最愚蠢的方式向我解释这一点。

提前感谢。

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。
    您好、Subhronil、

    假设过采样率(SD16OSRx)为256、则16位 Σ-Δ 值需要4096个采样。 每个样本所需的时间等于 ADC 采样率与过采样率的倒数、从而得到表1-5中给出的总测量时间。 ADC 采样频率 fADC 不应与完全转换所需的采样数相混淆、在本示例中、这两个采样数恰好为4069、因此在测量时间1秒内彼此抵消。 采样率越低、测量时间越长。

    此致、
    Ryan
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    您好、Ryan、

    非常感谢您的回答、它非常明确。 现在是否可以更改“过采样率(SD16OSRx)”? 原因、我正在尝试缩短测量时间、同时保持相同的精度。

    如果您有任何建议、我们将不胜感激。

    提前感谢。

    此致
    Subhronil
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    尊敬的 Subhronil:

    这是通过 SD16CCTLx 寄存器的 SD16OSRx 位实现的。

    此致、
    Ryan