[参考译文] MSP430FW423：更改 SIFDACR6/7时、ScanIF 测试周期插入附加脉冲(SIFIFG3)中断

您好！

我将向我们的专家咨询您的问题并回复您。

您好 Hao、

我将在扫描中断上下文结束时更改 SIFDACR6/7的值。 因此、TSM 序列应该结束、TSM 索引复位为0。 我已将小测试代码添加到主循环、并且在 ScanIF 中断开始时：

_DINT ()；

SIFDEBUG = 0x0001；
int CURRENT_DEBUG_VALUE = SIFDEBUG；

IF ((CURRENT_DEBUG_VALUE & 0x1f00)！= 0)
DBG3_ON；
否则
DBG3_OFF；

_EINT ()； 

_DINT 和_EINT 仅在主循环中。 我始终观察到、在 ScanIF 的开头、TSM 索引设置为0。

此处：

DBG0 - ScanIF 中断例程。

DBG1 - ScanIF SIIFG1处理程序(其中 SIFDACR6/7可能被更改。 它们在来自测试周期的第二个中断上被改变。)

DBG2 - ScanIF SIIFG3处理程序->脉冲计数。

DBG3 - SIFDEBUG & 0x1f00不是0

DBG6 -主循环指示器->每次执行时齿状。

我的示波器显示相同的结果。 我有可见的线圈激励和振荡、然后看到来自中断处理程序的 DBG 引脚。 不要同时进行。

此致 Maciek

您好！

这很奇怪... 但这可以解决我的问题。 在进行更多测试后、我将确认这一点。

我已将校准过程从"扫描结束"中断处理程序移动到主上下文。 不再有假冲动。

奇怪的是：我对当前 TSM 状态使用小测试：

_DINT()；
SIFDEBUG = 0x0001；
int CURRENT_DEBUG_VALUE = SIFDEBUG；

while ((current_debug_value & 0x1f00)！= 0)
｛
SIFDEBUG = 0x0001；
current_debug_value = SIFDEBUG；
｝
_EINT ()； 

在测试时、它始终会在第一个状态下设置为0。 与中断例程中的完全相同。 我确定在最后一个 TSM (SIFSTOP)周期后立即触发'End of SCAN'中断、因此我确信、在 TSM 工作时我对 SIFDACR6/7 _NOT_进行了修改。

还有！！！ 我使用第一个版本的 ScanIF、而不是 ESI2错误中的扩展 ScanIF。

我将在更多测试后发布一些结果。 我希望这是解决方案。

此致

Maciek

Maciek、您好！

 写入 SIFDEBUG 寄存器的方式不正确。 用户指南第912页对其进行了说明  

这就是你一直得到0的方法。

此致、

现金 Hao

您好！

我确信我使用 mov 指令写入 SIFDEBUG。 这是生成的汇编器：

.dwpsn文件"../main.c"、行629、列4、is_stmt、ISA 0
提示
NOP ;[]|629|
.dwpsn文件"../main.c"，第631行，第4列，is_stmt，ISA 0
MOV.W 1、SIFDEBUG+0 ;[]|631|
.dwpsn文件"../main.c"，第633行，第28列，is_stmt，ISA 0
MOV.W SIFDEBUG+0、R15 ；[]|633| 

不幸的是，我太快了…… 我仍然从脉冲计数器获得假中断。 仍在挖掘出错误。

=========== 编辑===========

我更改了

SIFDEBUG = 0x0001；

更改为  

asm ("\t\tMOV.B #1、&SIFDEBUG+0")；

结果是相同的。 每次(((SIFDEBUG & 0x1f00)==0)=true。

此致

Maciek

经过一些测试后、我确定出现了问题。

完成日期：

-在"扫描结束"中断处理程序之后、我将在主上下文中更改 SIFDACR6/7。

-我将仅使用 MOV.B 检查 SIFDEBUG 的 TSM 非活动状态、以将 SIFDEBUG 设置为0x0001

出什么问题了？ 当我更改 SIFDAC0-1和 SIFDAC2-3中的 SIFDACR6/7迟滞时、无法正常工作、从而导致额外的假脉冲计数。

在应用程序初始化时、我已经为 SIFDAC0/1/2/3设置了静态值

SIFDACR0 = 715；
SIFDACR1 = 705；
SIFDACR2 = 715；
SIFDACR3 = 705； 

之前、我有725-715个用于 DAC、并且来自线圈的未阻尼信号等于725-727、因此应该位于迟滞电平之上。 这就是为什么我将电平更改为715-705以进一步远离迟滞阈值的原因。

现在！！！ 我将执行两个测试。 代码库是相同的。 对于第一项测试、我不修改 SIFDACR6/7、对于第二项测试、我将使用简单的二进制搜索算法来更改这些寄存器的值、以查找来自线圈的电流信号电平。

在首次测试期间、我的线圈未阻尼、我将金属环放置在更靠近线圈的位置。 我不能观察到任何假脉冲。

在第二次测试中、我的线圈未阻尼、我将金属环放置在更靠近线圈的位置。  我可以观察校准例程的输出。 此时、当来自两个线圈的信号低于顶部迟滞电平(715)但仍高于低迟滞电平(705)时、我会观察到假脉冲(其中很多)。

红色和蓝色信号是校准过程的结果(在先前的帖子中可见这7个 TCI)

黄色表示检测到假脉冲的瞬间。 ScanIF 配置为输出脉冲 MOD 4、因此必须在扩展状态机(PSM)中存在全旋转。

为了确保我还对反相迟滞阈值执行了相同的测试：

SIFDACR1 = 715；
SIFDACR0 = 705；
SIFDACR3 = 715；
SIFDACR2 = 705； 

观察结果类似。 当信号处于迟滞阈值之间时、可以看到错误计数、但有更多的错误计数。 在上面的示例中、我发出5个假脉冲。 当阈值被反转时、我可以在同一时间周期内计数大约55个假脉冲。

我正在更改在50000以上器件上工作1.5年的软件、没有任何错误计数。 现在的不同之处在于、这一 TCI 自动校准过程修改了 SIFDAC6/7寄存 器并完全破坏了迟滞。 目前、我正在尝试生成最小不起作用的示例。 但我不能在这里(公开)发布它。

此致

Maciek

Maciek、您好！

感谢您进行这些测试。  

我将继续处理这个问题。 如果您认为 E2E 不是共享的好地方、我们可以通过电子邮件进行讨论。 我的电子邮件是 cash-hao@ti.com  

此致、

现金 Hao

您好！

我想解决问题并共享解决方案、但无法共享代码。 我还在处理这个问题。
看起来、测试周期的结果是决定比较器在正常周期中使用哪个迟滞阈值(高电平或低电平)。 我有一些测试需要考虑、但我将在大约几个小时的时间内办公、所以我将进行测试。

我要做的是、将 SIFDACR6/7设置为测试周期的恒定值模式、以生成脉冲。 通过了解正常周期使用的比较器阈值、我理论上可以生成特定数量的错误周期。 这将证明或拒绝我的意见。

谢谢
Maciek。