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[参考译文] MSP430FR5964：如何以编程方式识别受 ADC67影响的 UC 勘误手册

admin
Guru**** 2382490 points
Other Parts Discussed in Thread: MSP430FR5964
请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/msp-low-power-microcontrollers-group/msp430/f/msp-low-power-microcontroller-forum/744287/msp430fr5964-how-to-programmatically-recognize-uc-affected-by-adc67-errata-note

器件型号：MSP430FR5964

您好！

MSP430FR5964具有 ADC67勘误手册、其中涉及内部温度传感器的 TLV 校准值不正确。 来自87XXXXX 批次追踪代码的器件不受此问题的影响。 是否可以在 程序中识别设备是否受到影响？  

器件说明表中的 TLV 具有4字节长芯片记录->批次/晶圆 ID 字段。 是否可以使用该值将具有正确校准值的处理器与错误校准值区分开？ 如何将此数字转换为器件上打印的批次代码？

此致、

Mateusz

  • 0
    TI__Guru**** 2382490 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。
    您好、Mateusz、

    感谢您的发帖。
    我们将对此进行深入研究、并尽快回复您。

    此致、
    灵
  • 0
    TI__Guru**** 2382490 points
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    您好、Mateusz、

    很抱歉耽误你的回答。 我已经与工程师团队进行了检查、没有用于将 TLV 裸片记录转换为批次代码的公式。

    此致、
    灵
  • 0
    TI__Guru**** 2382490 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    您好、Ling、

    感谢您的检查和回答、

    此致