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CC2571未被设计或指定为防辐射器件。 电离辐射导致的 IC 性能下降取决于电离辐射总剂量(TID)。 此剂量是累积的。 由于该器件未针对辐射性能进行表征、我们无法提供有关 TID 限制的规格。 但是、我认为绝育事件极不可能立即导致故障、但性能或可靠性可能会下降。 客户应评估其系统、以确定其是否符合其使用寿命和可靠性要求。
