This thread has been locked.

If you have a related question, please click the "Ask a related question" button in the top right corner. The newly created question will be automatically linked to this question.

[参考译文] DRA725:重复的加电/断电测试导致寄存器值发生变化

Guru**** 674950 points
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/processors-group/processors/f/processors-forum/1117607/dra725-repeated-power-up-down-tests-caused-register-values-to-change

器件型号:DRA725

大家好、

以下是客户提出的问题、可能需要您的帮助:

SDK 版本:tisdk-rootfs-image-dra7xx-evm_vsdk_3_5

1)反复切换机器测试、引导(14 v 1A 30秒)关闭(0 v 10秒)

2)问题的发生:测试完成后、屏幕不显示、读取相关寄存器值、发现 DISPC_GFX_attributes 值发生变化
与注册相关:

寄存器

正常值

故障值

DISPC_CONFIG1

0x00000C04

null

DISPC_CONFIG2

0x00000000

null

DISPC_CONFIG3

0x00000000

null

DISPC_GLOBAL_ALPHA

0xFFFFFFFF

null

DISPC_TRANS_COLOR0

0x00000000

null

DISPC_TRANS_Color1

0x00000000

null

DISPC_TRANS_COLOR2

0x00000000

null

DISPC_TRANS_Color3

0x00000000

null

DISPC_GFX_attributes

0x0E000891

0x0E0000A0

DISPC_VID1_attributes

0x02288873

null

DISPC_VID2_attributes

0x06008400

null

DISPC_VID3_attributes

0x0A288A60

null

您可以帮助检查此案例吗? 谢谢。

此致、

樱桃

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    您好!

    请问有没有更新?

    谢谢、此致、

    樱桃

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    没明白。 上表中的“null”是什么意思? 它们是否不可读?  

    此致、

    Brijesh