This thread has been locked.

If you have a related question, please click the "Ask a related question" button in the top right corner. The newly created question will be automatically linked to this question.

[参考译文] AFE7444:边界扫描测试- IEEE1149.1

Guru**** 1769905 points
Other Parts Discussed in Thread: AFE7686, AFE7444
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/rf-microwave-group/rf-microwave/f/rf-microwave-forum/1265064/afe7444-boundary-scan-test---ieee1149-1

器件型号:AFE7444
主题中讨论的其他器件:AFE7686

您好!

我们正在尝试在 AFE7444 (使用 AFE7686 BSDL 模型)上运行边界扫描测试。

器件 JTAG 端口与其他符合 IEE1149标准的器件链式连接。

当单独测试 AFE7444 (无 JTAG 链)时、我们可以读取正确的 IDCODE、而当连接到链路中、AFE7444上的链似乎已断开。

我的第一个问题是 AFE7444是否符合 IEEE1149.1标准

如果是、我们在运行测试时应遵循任何特定的设置或过程?

谢谢!

此致

马西莫