Thread 中讨论的其他器件： SysConfig、 CC2640R2F、 CC2640、 CC2650
您好、传感器论坛、
我在获取 LMT84温度方面遇到了一些困难。 传感器、以便与运行 TI-RTOS 的 MSP432P4011以及通过 SysConfig 配置的外设正常配合使用。 我在 MSP 论坛中提出了一个相关问题、但该问题尚未得到解决、因此也将其发布在传感器论坛中。
我的上一帖子- 
总结-我有一个定制 PCB、其中 LMT84连接到 MSP432 ADC 引脚(P5.4/ADC14.A1)。 我使用内部 VDD (+3.3V)基准来执行单端测量。 我使用 SysConfig 工具配置了 ADC、该工具不允许我控制采样/保持时间等
我的电路原理图如下所示-
我的问题-
LMT 84输出稳定的888至910 mV 输出(使用 DMM 测量)、对应于(1035 - Vout)/5.5中的正确室温。 但我的 MSP432 ADC 的读取速度非常不一致。 我可以在整个地方获得读数、包括高达1000mV 的读数。 平均读数高出大约50-60mV、这会使温度读数完全偏离。 这在我们制造的多个相同 PCB (机器组装)之间是可重复的。
我知道、在上面的原理图中、对于我设置为0欧姆的 RST 电阻器、有一些注意事项。 如果负载电容大于1100pF、LMT84数据表建议使用3k 电阻器。 不过、我查看了 MSP432 ADC 规格、ADC 上的负载电容似乎小于15pF (MSP432P4011数据表第70页的表5.27)、这意味着总负载小于1100pF。 我的理解是、我不需要 RST 为3k。
但是、我尝试 RST = 3k、结果稍好一些、但并不完全符合我的预期。 测量中仍然存在较大的偏移和一些差异。
我们已将同一电路与具有类似 SAR ADC 的 CC2640R2F 搭配使用。 在该设计中、我能够配置 ADC 的采样保持时间(这是 SysConfig 之前的时间)、这种配置非常有效。
我们采取的方法是否存在明显的缺陷？ 万用表测量值匹配良好、这只是 ADC 能否准确读取这些测量值的问题。
希望能有一些关于这方面的见解！
-Shreyas
