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[参考译文] CC1312R / F280041 MCU:"平均故障率"在使用寿命(10年,TJ = 105C)内?

Guru**** 2546140 points
Other Parts Discussed in Thread: CC1312R

请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/wireless-connectivity/sub-1-ghz-group/sub-1-ghz/f/sub-1-ghz-forum/1069830/cc1312r-f280041-mcus-average-failure-rate-over-the-useful-lifetime-10-years-tj-105c

部件号:CC1312R

团队,

客户正在尝试估算他的用例(即他的特定“任务配置文件”)的设备使用寿命。

下面的应用程序注释表示我们的 EP (MCU,处理器)设备:
“当前一代 TI 工业级 EP 产品旨在支持在105°C 接点温度(TJ)下工作的10年使用寿命”

    应用程序提示:计算嵌入式处理器的使用寿命-SPRABX4
    应用手册:计算任务配置文件的适用性-SPRABY3

现在查看下面的 TI.com 页面,该页面提供了“失败率”术语:
https://www.ti.com/support-quality/reliability/reliability-terminology.html#

问题:
对于 CC1312R,F280041 MCU 等某些器件,上述使用寿命(即105C TJ 时为10年)的典型“平均故障率(λavg)”是多少?
以及哪种样品尺寸?

请提前感谢您的参与。

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